Testability is the concern most often voiced by Texas Instruments (TIä ) application specific integrated circuit (ASIC) users. This document is intended to consolidate TI policies into a coherent approach to designing for Testability. It is not intended as a specification, but as a guide you can use for developing test strategies when designs are being initiated
标签： Testability Instruments application specific
上传时间： 2016-11-13
上传用户：wfl_yy
中科院研究生院VLSI测试课程课件，VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES Design for Testability，搞好测试必看。
上传时间： 2014-09-03
上传用户：ANRAN
可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU，综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片设计中的各种可测试性方法，包括扫描设计（Scan Design），内建自测试（Built-In Self-Test，BIST），测试点插入（Test Point Insertion），与 IEEE 1149.1标准兼容的边界扫描设计（Boundary Scan Design，BSD）等技术。
上传时间： 2021-10-15
上传用户：uuuu009
