📚 Testability技术资料

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Testability是电子设计中不可或缺的关键技术，专注于提高电路板及系统的可测试性，确保产品从开发到维护全生命周期内的高效故障检测与诊断。通过合理布局测试点、采用边界扫描等方法，Testability不仅能够显著降低生产成本，还能提升产品质量和可靠性。对于从事硬件设计、制造以及质量控制的工程师而言，掌握Testability原理及其应用技巧至关重要。本页面汇集了3份精选资源，帮助您深入了...

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Testability is the concern most often voiced by Texas Instruments (TI&#228 ) application specific integrated circuit (ASIC) users. This document is i...

📅 2016-11-13 👤 wfl_yy

中科院研究生院VLSI测试课程课件

中科院研究生院VLSI测试课程课件，VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES Design for Testability，搞好测试必看。...

📅 2014-09-03 👤 ANRAN

VLSI 研究生测试

CPU可测试性设计

可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU，综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片...

📅 2021-10-15

可测试性设计 CPU