1、弧焊逆变器的基本结构1.1弧焊逆变器的基本原理采用逆变技术的装置称为逆变器,而用于电弧焊的逆变器则称为弧焊逆变器。弧焊逆变器的基本原理方框图如图1-1所示。由图可见,三相50Hz的交流网路电压先经输入整流器整流和滤波,经过大功率开关电子元件的交替开关作用,变成几百赫兹到几十千赫兹的高频电压,经高频变压器降至适合焊按的电压,再用输出整流器整流并经电抗器滤波,则可将中频交流变为直流输出。在弧焊逆变器中可采用如下两种模式:"AC-DC-AC"或"AC-DC-AC-DC",根据不同弧炉工艺的需要,通过电子控制电路和电弧电压、电流反馈,弧焊逆变器即可获得各种不同的输出特性。1,2逆变技术和微机技术在弧焊电源中的应用逆变电源运用先进的功率电了器件和高频逆变技术,比传统的工频整流电源的材料减少80%~90%,节能20%~30%,动态反应速度提高2-3个数量级。这种“明天的电源”正在以极高的速度变成今天的电源,并且随着功率开关元器件、微电子技术和控制技术的发展,不断研究开发出新的技术成果和新产品,使得逆变电源向着高频化、轻量化、模块化、智能化和大容量化方向发展。
上传时间: 2022-06-21
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封装作为微电子产业的三大支柱之一,在微电子产业中的地位越来越重要。随着微电子产业不断的发展,轻型化,薄型化,小型化的微小间距封装成为发展需要。而封装的相关失效成为制约封装向前发展的瓶颈。本文通过大量的调研文献,对封装失效分析的目的,内容和现状进行总结,并对封装失效分析的未来发展进行展望。本文的主题是对封装中最重要的两个方面引线键合和塑料封装材料产生的相关失效进行归纳总结。本文从封装在微电子产业中的作用出发,引出对封装的失效进行分析的重要性,并说明了国内外封装产业的差距。对失效的基础概念,失效的分类进行了阐述;总结了进行失效分析的相关流程和进行失效分析最基本的方法和仪器。对封装中最普遍的引线键合工艺和塑封工艺分别进行了分析。对比了传统的Au线,Al线与Cu线键合工艺,说明了Cu引线键合技术代替传统的键合技术成为主流键合工艺的必然性;对Cu引线键合技术中出现的相关失效问题和国内外的研究结果进行了分析归纳。对塑料封装材料的发展进行了说明,指出环氧树脂为主流塑料封装材料的原因;对环氧树脂的组成以及在使用环氧树脂过程中出现的相关失效进行了归纳,并总结了环氧树脂未来的发展方向。
上传时间: 2022-06-24
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本文大致可划分为四大部分。首先简单探讨LED,其次重点论述LED封装技术,然后简单介绍LED相关术语、LED相关工具,最后总结。经过对大量文献的阅读分析论证,LED封装技术主要涉及到封装设计、封装材料、封装设备、封装过程、封装工艺五大方面。封装设计是先导,封装材料是基础,封装设备是关键,封装过程是支柱,封装工艺是核心。封装过程大致可分为固品、焊线、灌胶、测试、分光五个阶段。封装工艺,主要体现为生产过程中的各个阶段各个环节各个步骤的技术要领和注意事项,在LED封装生产中至关重要,否则即使芯片质量好、辅材匹配好、设备精度高、封装设计优,若工艺不正确或品控不严格,最终也会影响LED封装产品的合格率、可靠性、热学特性及光学特性等。总之,合格的工艺能保证LED器件的质量,改进的工艺能降低LED器件的成本,先进的工艺能提高LED器件的性能。因此,本文重点在于对LED封装工艺进行分析和综合,简单介绍了封装设计,封装材料、封装设备、封装过程,详细地说明了封装工艺,总结了LED封装工艺的技术要领、注意事项,明确了LED封装有哪些工序、流程、制程、过程、环节,每个工序用什么材料,材料怎么检查怎么仓储怎么使用,用什么工具,工具怎么使用,操作步骤顺序和方法是怎样的,操作中要注意哪些事项,执行要达到什么标准,还分析了死灯的原因,介绍了LED封装生产过程中的静电防护措施。
标签: led
上传时间: 2022-06-26
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本文主要超薄芯片的背面金属化中的一些问题,阐述了两种主要的背面金属化工艺的建立,并解决了这两个工艺中关键问题,使得工艺获得好的成品率,提高了产品的可靠性,实现了大规模量产。流程(一)介绍了一种通过技术转移在上海先进半导体制造有限公司(ASMC)开发的一种特殊工艺,工艺采用特殊背面去应力工艺,通过机械应力和背银沾污的控制,将背面金属和硅片的黏附力和金硅接触电阻大大改善。论文同时阐述了一种自创的检验黏附力的方法,通过这种方法的监控,大幅度提高了产品良率,本论文的研究课题来源于企业的大规模生产实践,对于同类的低压低导通电阻VDMOS产品有实用的参考意义。流程(二)讨论了在半导体器件中应用最为广泛的金-硅合金工艺的失效模式及其解决办法。并介绍了我公司独创的刻蚀-淀积-合金以及应力控制同时完成的方案。通过这种技术,使得金硅合金质量得到大步的提升,并同时大大减少了背金工艺中的碎片问题,为企业获得了很好的效益。
上传时间: 2022-06-26
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简要介绍本文件的目的是,针对潮湿、再流焊和工艺敏感器件,向生产商和用户提供标准的操作、包装、运输及使用方法。所提供的这些方法可避免由于吸收湿气和暴露在再流焊温度下造成的封装损伤,这些损伤会导致合格率和可靠性的降低。一旦正确执行IPC/JEDEC J-STD-033D,这些工艺可以提供从密封时间算起12个月的最短保质期。由IPC和JEDEC开发。一般的IC封装零件都需要根据MSL标准管控零件暴露於环境湿度的时间,以确保零件不会因为过度吸湿在过回焊炉时发生popcom(爆裂)或delamination(分层)的后果,不同的零件封装会产生不同的MSL等级,当湿气进入零件越多,零件因温度而膨胀剥离的风险就越高,基本上湿度敏感的零件在出厂前都会经过一定时间及温度的烘烤,然后连同乾燥剂(desiccant)一起加入真空包装中来达到最低的湿气入侵可能。本文件的目的是,针对潮湿/再流焊敏感表面贴装器件,向生产商和用户提供标准的操作、包装、运输及使用方法。所提供的这些方法可避免由于吸收湿气和暴露在再流焊温度下造成的封装损伤,这些损伤会导致合格率和可靠性的降低。一旦正确执行,这些工艺可以提供从密封时间算起12个月的最短保质期。由IPC和JEDEC开发。
标签: ipc j-std-033d
上传时间: 2022-06-26
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Sentaurus是Synopsys公司的专门用于半导体器件制造工艺和电学特性仿真的EDA软件,可以给出掺杂、电势分布等物理特性。
上传时间: 2022-06-27
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原版英文PDF电子书免费下载:Digital Integrated Circuit Design From VLSI Architectures to CMOS Fabrication,891页 本书从架构和算法讲起,介绍了功能验证、vhdl建模、同步电路设计、异步数据获取、能耗与散热、信号完整性、物理设计、设计验证等必备技术,还讲解了vlsi经济运作与项目管理,并简单阐释了cmos技术的基础知识,全面涵盖了数字集成电路的整个设计开发过程。 本书既可以作为高等院校微电子、电子技术等相关专业高年级师生和研究生的参考教材,也可供半导体行业工程师参考。 现代电子系统日益复杂,随着半导体工艺水平的提高,单芯片的集成度和功能得以不断增强,其设计复杂度和各种风险也随之变大,甚至影响到投资者对研发新的更复杂系统芯片的信心。但是,为了有效降低便携式移动系统的产品单位成本和能量消耗,同时为了在产品独特性方面有竞争力,越来越多的电子产品仍然必须采用专用芯片解决方案。因此,深入了解数字集成电路设计的基本方法和关键问题,并明确开发过程的各个实践环节存在的风险,就变得十分必要。 本书是一本将超大规模数字电路基本概念原理与工程实践管理相结合的综合性教材。作者根据自己多年的教学和工程实践经验,从工程实践的关键问题出发,对超大规模数字电路的全部讲授内容进行了一次全新的梳理,形成了清晰的解决思路。在数字集成电路设计的各个环节,作者重点阐述了设计研制中必须考虑的关键因素,在丰富经验基础上对设计中常常出现的问题进行了详尽的讨论,可以帮助研究生和资深工程师完善自身的设计经验和能力,也可以帮助项目管理者明确各个环节的工作重点,规避研发环节的风险。 本书和其他数字集成电路教科书相比,有两个突出的特点。第一是自顶向下的组织方式,从算法的架构设计开始,讨论了同步设计的各种时钟技术、设计验证、散热和封装问题,还讨论了VLSI(超大规模集成电路)经济学与项目管理。读者可以根据自身需要直接阅读感兴趣的章节,而不需要很多半导体物理与器件方面的知识。第二是实用性。本书用了相当多的篇幅讨论了工程实践的问题,例如给出了一个很好的设计数据组织方法,还有很多检查列表与提醒。 在目前的集成电路项目里,大量使用了重用的虚拟元件,通常有十几个到几十个时钟,验证工作量也要占到整个项目周期和投资的50%~70%,关于虚拟元件、时钟方案、VLSI经济学、项目管理、功能验证、设计验证等内容的讨论都可以直接作为实际项目实践的参考。总之,本书的内容相当全面并有一定深度,基本涵盖了数字集成电路设计的各个方面,非常适合用作学习数字集成电路设计的高年级本科生与研究生的教科书,也适合作为正在从事数字集成电路开发的工程人员的参考书。
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上传时间: 2022-06-30
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估计是全站唯一高清《微电子电路》中文第五版,对刚csdn百元会员费。因为文件100m以上,所以分多批上传。上册part1:http://dl.21ic.com/download/1565416017-314802.html part2:http://dl.21ic.com/download/5-314803.html part3:http://dl.21ic.com/download/5-314804.html 下册: http://dl.21ic.com/download/5-314805.html
上传时间: 2022-07-03
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