可测试性设计

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可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合...

2021-10-15 2 可测试性设计

目的:提高PCB的检测和故障诊断能力，从而提高PCB的维修性．方法结构标准化和应用新的可测性设计．结果PCB的测试检测能力显著提高． 结论:可测性设计是提高PCB测试、检测能力的有效手段．

2023-12-21 9 可测试性设计