虫虫首页|资源下载|资源专辑|精品软件
登录|注册

您现在的位置是:虫虫下载站 > 资源下载 > 技术资料 > CPU可测试性设计

CPU可测试性设计

  • 资源大小:160
  • 上传时间: 2021-10-15
  • 上传用户:uuuu009
  • 资源积分:2 下载积分
  • 标      签: 可测试性设计 CPU

资 源 简 介

可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在

芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中,可测试性设计技术得到了广泛

的应用。本文结合几款流行的 CPU,综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片设计中的各种可测试性方法,包括扫描设

计(Scan Design),内建自测试(Built-In Self-Test,BIST),测试点插入(Test Point Insertion),与 IEEE 1149.1

标准兼容的边界扫描设计(Boundary Scan Design,BSD)等技术。


相 关 资 源

您 可 能 感 兴 趣 的