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可测试性设计 的查询结果
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技术书籍 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计（影印版）
·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包括重用和隔离测试；用V ...
技术管理 中国科学院计算所李晓维研究员的VLSI测试与可测试性设计讲义
中国科学院计算所李晓维研究员的VLSI测试与可测试性设计讲义
电子书籍 数字存储器和混合信号超大规模集成电路 本书系统地介绍了数字、存储器和混合信号VLSI系统的测试和可测试性设计。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践
数字存储器和混合信号超大规模集成电路
本书系统地介绍了数字、存储器和混合信号VLSI系统的测试和可测试性设计。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践，结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测 ...
技术资料 CPU可测试性设计
可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU，综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片设计中的各种可测试性方法，包括扫描设计 ...
学术论文 基于FPGA的可测性设计方法研究
现场可编程门阵列(FPGA)是一种现场可编程专用集成电路，它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体，如今，FPGA系列器件已成为最受欢迎的器件之一。随着FPGA器件的广泛应用，它在数字系统中的作用日益变得重要，它所要求的准确性也变得更高。因此，对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义 ...
单片机编程 PCB可测性设计布线规则之建议―从源头改善可测率
P C B 可测性设计布线规则之建议― ― 从源头改善可测率PCB 设计除需考虑功能性与安全性等要求外，亦需考虑可生产与可测试。这里提供可测性设计建议供设计布线工程师参考。1. 每一个铜箔电路支点，至少需要一个可测试点。如无对应的测试点，将可导致与之相关的开短路不可检出，并且与之相连的零件会因无测试点而不可测。2. ...
其他书籍 本书内容提挈： ·通过基于组件的开发技术有效减少开发时间和成本 ·为可管理性、可靠性、灵活性和可移植性设计组件 ·使用最新的．NET技术调试应用程序 ·创建和定制可复用的Web Browser
本书内容提挈：
·通过基于组件的开发技术有效减少开发时间和成本
·为可管理性、可靠性、灵活性和可移植性设计组件
·使用最新的．NET技术调试应用程序
·创建和定制可复用的Web Browser组件
·开发、测试和安装Web服务和Windows服务
·通过身份验证和授权确保Web应用程序安全
·创建ADO．NET体系结构的后端组件
·实现和 ...
PCB设计 SMT印制电路板的可制造性设计与审核 ppt
SMT印制电路板的可制造性设计与审核 ppt
技术书籍 SMT印制电路板的可制造性设计与审核-296页-8.9M-ppt.rar
专辑类----PCB及CAD相关资料专辑 SMT印制电路板的可制造性设计与审核-296页-8.9M-ppt.rar
技术书籍 SMT印制电路板的可制造性设计与审核-296页-8.9M-ppt.ppt
专辑类-PCB及CAD相关资料专辑-174册-3.19G SMT印制电路板的可制造性设计与审核-296页-8.9M-ppt.ppt