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芯片测试

芯片测试,设计初期系统级芯片测试。SoC的基础是深亚微米工艺,因此,对Soc器件的测试需要采用全新的方法。由于每个功能元件都有其自身的测试要求,设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。
  • 车载芯片AECQ100认证

    AEC-Q100是AEC的第一个标准,是由美国汽车电子协会AEC所制定的规范,AEC-Q100于1994年6月首次发表,经过了十多年的发展,AEC-Q100已经成为汽车电子系统的通用标准。对于汽车电子元器件来说AEC-Q100是最常见的应力测试(Stress Test)认证规范。AEC-Q100主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态,对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认,特别对产品功能与性能进行标准规范测试。

    标签: 车载芯片 aecq100

    上传时间: 2022-04-26

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  • 单片型汽车电子电压调节器芯片设计

    随着微电子技术在汽车控制系统中的广泛应用,汽车总成中电子系统的作用显得越来越重要,这种发展态势对汽车发电系统提出了更高的要求。汽车电压调节器是汽车发电系统的心脏部件,优质的电压调节器是保证汽车电子系统高可靠性的重要前提。本文通过对大量电子电压调节器的分析,提出了新的电压调节器电路。在调节器的具体实现形式上采用单芯片集成方式,使其在电压调节精度、体积、重量及耐振性等方面均优于普通电子电压调节器。文中还详细分析了电压调节器的的工作原理和电路结构,分块设计了芯片内部各个功能模块,包括取样电路、电压基准源、误差放大器、保护电路和调整晶体管,给出所有晶体管级电路图,并对各功能模块进行Spice模拟验证,模拟的结果及分析也一并给出。最后根据元器件在电路中的作用确定器件单元版图结构,并介绍了版图设计过程关键词:汽车电子;调节器;调整管:双极工艺汽车工业是一种高度综合性的产业。现代汽车的发展形成了以计算机为顶端,半导体元器件为基础,光电测试为手段,集成电路为原料的新格局。近几年以来电子点火,电子显示,数字检测,电子转向,电子钟,电子音响,电磁操纵,空调等电子产品在我国汽车上得到了很大的发展和应用[2],这种发展态势对汽车发电系统提出了更高的要求,具体地说,用电系统不仅需要更大的供电能力,而且要求有更高的供电可靠性和供电质量。作为一个能满足这些要求的发电系统,除了高性能的发电机及可靠的整流装置外,还必需配备有高品质的电压调节器。为此,国内外有关研究机构及学者十分重视新型电子电压调节器的研究与开发.汽车发电系统的工作环境十分恶劣。相应地,对作为其关键部件之一的电压调节器的要求也很高。除要求电压调节器具有优良的电压调节性能外,还有许多特殊的要求,如强的耐震性,宽的工作温度范围,耐化学腐蚀以及能承受超负荷状态下的高压、大电流冲击等.

    标签: 汽车电子 电压调节器

    上传时间: 2022-06-19

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  • 高速ADC、DAC测试原理及测试方法

    随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高,以及对于系统灵敏度等要求的不断提高,对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中,一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号,另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此,保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题。ADC/DAC芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的,需要借助昂贵的半导体测试仪器,但是对于板级和系统级的设计人员来说,更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的真正性能指标。ADC的主要参数ADC的主要指标分为静态指标和动态指标2大类。静态指标主要有:Differ ential Non-Li nearity(DNL)ntegral Non-Li nearity(INL)Of fset Error ull Scale Gain Error动态指标主要有:

    标签: ADC DAC

    上传时间: 2022-06-19

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  • W公司手机芯片封装质量管理系统设计

    本文以质量管理理论为基础,针对手机芯片封装行业过于繁琐的海量质量数据,建立以数据挖掘技术为基础的质量管理系统,通过对手机芯片封装质量数据的采集、分析和处理,对手机芯片的质量缺陷和不合格产品进行分析和统计,诊断造成产品不合格的原因。本文首先回顾了国内外关于质量管理的发展历程及最新趋势,并对手机芯片封装质量管理进行了综述。在对数据挖掘、合格率管理等方面进行深入分析探讨的基础上,提出了手机芯片封装质量管理系统的设计目标、设计思路和功能模块。本文的研究工作主要有以下几个方面:1、对手机芯片封装的制造过程、系统模式进行了分析,着重研究了合格率管理和数据挖掘在手机芯片封装中的应用;2、运用数据挖掘的方法,针对影响芯片封装质量的多个相关因素,进行各因素的权重判定,确定哪些因素是影响质量的关键因素,针对影响质量的关键因素,通过对低合格率数据的提取与分析,定位封装过程中可能造成不合格产品的关键点,为质量改善提供依据:3、搜集W公司2006年5月到8月的手机芯片封装测试数据,进行实证研究,验证了所提出的研究方法的准确性。

    标签: 手机芯片封装 质量管理系统

    上传时间: 2022-06-21

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  • (原创)宏康24位sigma-delta ADC HY3102芯片的C驱动程序

    台系宏康HY3102 24位sigma-delta ADC芯片,SPI接口。本人写的主控HY16F198 C驱动程序,经过测试验证可用。程序及注释完整,有需要的可以下载参考。

    标签: ADC sigma-delta hy3102 驱动

    上传时间: 2022-06-22

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  • GPIB接口总线控制芯片的研究与设计

    GPIB为PC机与可编程仪器之间的连接系统定义了电气、机械、功能和软件特性。在自动测试领域中,GPIB通用接口是测试仪器常用的接口方式,具有一定的优势。通过GPIB组建自动测试系统方便且费用低廉。而GPIB控制芯片是自动测试系统中的关键芯片。目前,此类芯片只有国外少数公司生产,不仅价格昂贵,而且购买不便。因此,GPIB接口芯片的国产化、自主化对我国的自动测试产业具有重大的意义。本文通过对IEEE-488协议的理解与裁减,定义了一款包含具有讲者,听者,控者三个功能的GPIB接口控制规范。采用标准数字IC设计流程,对协议状态机化简后,进行了RTL级的Verilog编码设计,基于FPGA进行了原型验证。根据需要,对芯片的内部进行了时钟门控处理来降低功耗。采用芯片引脚复用和JTAG测试原理,对芯片内部增加了测试电路,方便了内部状态的测试,实现了可测试性设计。该芯片的工作时钟频率为8MHz,通过Synopsys的工具DC对源代码进行了综合;使用PT对设计进行了静态时序分析;采用Cadence公司的Silicon Ensemble对综合后的网表进行了版图设计,对芯片内部的电源网络和时钟树做了特殊处理,在国外的某5V0.5/m标准数字单元库下进行了mapping,芯片规模10万门左右,裸片面积为1.5mm×1.7mm。

    标签: gpib 接口 总线控制芯片

    上传时间: 2022-06-25

    上传用户:zhaiyawei

  • LED芯片封装设计与制作—LED工艺的研究

    本文大致可划分为四大部分。首先简单探讨LED,其次重点论述LED封装技术,然后简单介绍LED相关术语、LED相关工具,最后总结。经过对大量文献的阅读分析论证,LED封装技术主要涉及到封装设计、封装材料、封装设备、封装过程、封装工艺五大方面。封装设计是先导,封装材料是基础,封装设备是关键,封装过程是支柱,封装工艺是核心。封装过程大致可分为固品、焊线、灌胶、测试、分光五个阶段。封装工艺,主要体现为生产过程中的各个阶段各个环节各个步骤的技术要领和注意事项,在LED封装生产中至关重要,否则即使芯片质量好、辅材匹配好、设备精度高、封装设计优,若工艺不正确或品控不严格,最终也会影响LED封装产品的合格率、可靠性、热学特性及光学特性等。总之,合格的工艺能保证LED器件的质量,改进的工艺能降低LED器件的成本,先进的工艺能提高LED器件的性能。因此,本文重点在于对LED封装工艺进行分析和综合,简单介绍了封装设计,封装材料、封装设备、封装过程,详细地说明了封装工艺,总结了LED封装工艺的技术要领、注意事项,明确了LED封装有哪些工序、流程、制程、过程、环节,每个工序用什么材料,材料怎么检查怎么仓储怎么使用,用什么工具,工具怎么使用,操作步骤顺序和方法是怎样的,操作中要注意哪些事项,执行要达到什么标准,还分析了死灯的原因,介绍了LED封装生产过程中的静电防护措施。

    标签: led

    上传时间: 2022-06-26

    上传用户:zhaiyawei

  • 高速串行Serdes信号的眼图抖动测试

    随着新研发单板上高速Serdes信号的增多,信号完整性测试显的越来越重要,本文档围绕Serdes信号的眼图抖动测试总结一些测试注意事项。新研发单板上高速Serdes信号速率高达2.45G,一些时钟信号上升/下降沿达到400ps左右,必然需要测量Serdes信号的眼图、抖动,在这里总结一些测试经验和注意事项。UBPG1单板上有如下几种高速数据SERDES信号:1.         GE SERDES接口(SGMII接口标准)2.         AIF SERDES接口(CPRI接口标准)3.         IQ SERDES接口(类CPRI接口标准,自定义帧格式)4.         光口 SERDES接口(CPRI接口标准)对于SERDES信号,其信号电气特性由IEEE协议规定,在协议中会给出相应的眼图测试模板及抖动指标,部分芯片厂家会在DATASHEET中给出单独的眼图测试模板及抖动指标(一般会比协议要求的更宽松)。UBPG1单板上的SERDES接口按电气特性分有两种,一种是SGMII接口(用1000-BASE-CX模板,IEEE协议39节);一种是CPRI接口(用XAUI模板,IEEE协议49节)。

    标签: 高速 serdes 眼图抖动

    上传时间: 2022-06-30

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  • 射频电路与芯片设计要点

    《射频电路与芯片设计要点》是2007年06月高等教育出版社出版的图书,作者是(美国)李缉熙。本书重点讨论芯片级和PCB级射频电路设计和测试中经常遇到的阻抗匹配、接地、单端到差分转换、容差分析、噪声与增益和灵敏度、非线性和杂散波等关键问题。第1章 阻抗匹配的重要性第2章 阻抗匹配第3章 射频接地第4章 无源贴片元件的等效电路第5章 单端电路和差分对电路第6章 巴伦第7章 容差分析第8章 RFIC设计前景展望第9章 接收机的噪声、增益和灵敏度第10章 非线性和杂散分量第11章 级联方程和系统分析第12章 从模拟通信系统到数字通信系统

    标签: 射频电路

    上传时间: 2022-07-04

    上传用户:jiabin

  • TDC-GP22时间数字芯片关键编程算法研究与实现

    TDC-GP22芯片是一款皮秒级高精度时间数字转换芯片,由于TDC-GP22内部寄存器种类繁多,所以芯片编程操作相对较复杂。为此根据TDC-GP22的SPI接口特点,并结合AVR单片机主机优势,用高级语言编制符合SPI接口协议程序,实现对TDC-GP22的两种主要操作,一种是按照SPI协议对芯片的寄存器进行读取数据操作,另一种是根据SPI协议数据循环特点对芯片寄存器进行写入数据操作。TDC-GP22实验测试结果表明所编制程序运行完全稳定可行。

    标签: 时间数字芯片

    上传时间: 2022-07-12

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