采用软件校正的TMS320f2812内置ADC采样值方案.rar
采用软件校正的TMS320f2812内置ADC采样值方案...
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高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA...
随着现代通信与信号处理技术的不断发展,对于高速高精度AD转换器的需求越来越大。但是,随着集成电路工艺中电路特征线宽的不断减小,在传统单通道ADC框架下同时实现高速、高精度的数模转换愈加困难。此时,时分交替ADC 作为......
高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实...
LM3S系列ADC例程:多种采样触发方式...