基于FPGA的Turbo码编译码器实现基于FPGA的Turbo码编译码器实现
上传时间： 2013-06-13
上传用户：ippler8
本文在阐述卷积码编解码器基本工作原理的基础上，提出了在MAX+PlusⅡ开发平台上基于VHDL语言设计（2，1，6）卷积码编解码器的方法。
上传时间： 2013-06-16
上传用户：zfh920401
随着印制电路板功能的日益增强，结构日趋复杂，系统中各个功能单元之间的连线间距越来越细密，基于探针的电路系统测试方法已经很难满足现在的测试需要。边界扫描测试(BST)技术通过将边界扫描寄存器单元安插在集成电路内部的每个引脚上，相当于设置了施加激励和观测响应的内建虚拟探头，通过该技术可以大大的提高数字系统的可观测性和可控性，降低测试难度。针对这种测试需求，本文给出了基于FPGA的边界扫描控制器设计方法。 完整的边界扫描测试系统主要由测试控制部分和目标器件构成，其中测试控制部分由测试图形、数据的生成与分析及边界扫描控制器两部分构成。而边界扫描控制器是整个系统的核心，它主要实现JTAG协议的自动转换，产生符合IEEE标准的边界扫描测试总线信号，而边界扫描测试系统工作性能主要取决与边界扫描控制器的工作效率。因此，设计一个能够快速、准确的完成JTAG协议转换，并且具有通用性的边界扫描控制器是本文的主要研究工作。 本文首先从边界扫描技术的基本原理入手，分析边界扫描测试的物理基础、边界扫描的测试指令及与可测性设计相关的标准，提出了边界扫描控制器的总体设计方案。其次，采用模块化设计思想、VHDL语言描述来完成要实现的边界扫描控制器的硬件设计。然后，利用自顶向下的验证方法，在对控制器内功能模块进行基于Testbench验证的基础上，利用嵌入式系统的设计思想，将所设计的边界扫描控制器集成到SOPC中，构成了基于SOPC的边界扫描测试系统。并且对SOPC系统进行软硬件协同仿真，实现对边界扫描控制器的功能验证后将其应用到实际的测试电路当中。最后，在基于SignalTapⅡ硬件调试的基础上，软硬件结合对整个系统可行性进行了测试。从测试结果看，达到了预期的设计目标，该边界扫描控制器的设计方案是正确可行的。 本文设计的边界扫描控制器具有自主知识产权，可以与其他处理器结合构成完整的边界扫描测试系统，并且为SOPC系统提供了一个很有实用价值的组件，具有很明显的现实意义。
上传时间： 2013-07-20
上传用户：hewenzhi
本书很有些年头了。主要内容有：超声波的基本原理，超声波换能器，声速、衰减和声阻抗的测量及其在媒质特性分析上的应用，超声波粘度计，超声波测温技术，超声波测量流量，超声波液位测量技术，超声测厚。
上传时间： 2013-06-07
上传用户：cwyd0822
文章首先分析比较了光伏并网逆变器的各种主电路结构优缺点，提出适合小 功率光伏系统的两级式并网结构，并对前级DC-DC电路和后级DC-AC分别进行 了电路结构的选择。
上传时间： 2013-06-14
上传用户：jjj0202
周立功的一份文档，介绍源码公开的MCS-51单片机宏汇编器，本是一应届生的习作，是学习编译原理和C程序设计的“靶子”，虽然该软件未完全达到满意效果，不过与Keil公司的A51配合起来使用还是不错的。
上传时间： 2013-05-19
上传用户：axxsa
基于FPGA技术的HDLC帧收发器的设计与实现
上传时间： 2013-05-24
上传用户：lindor
USBISP下载器驱动USBISP下载器驱动及说明(USBISP配置用户用)\RZ-USBISP使用说明
上传时间： 2013-07-03
上传用户：coeus
FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了目前集成电路发展的新需求，但是其结构同益复杂，规模也越来越大，内部资源的种类也R益丰富，但同时也给测试带来了困难，FPGA的发展对测试的要求越来越高，对FPGA测试的研究也就显得异常重要。 本文的主要工作是提出一种开关盒布线资源的可测性设计，通过在FPGA内部加入一条移位寄存器链对开关盒进行配置编程，使得开关盒布线资源测试时间和测试成本减少了99％以上，而且所增加的芯片面积仅仅在5％左右，增加的逻辑资源对FPGA芯片的使用不会造成任何影响，这种方案采用了小规模电路进行了验证，取得了很好的结果，是一种可行的测试方案。 本文的另一工作是采用一种FPGA逻辑资源的测试算法对自主研发的FPGA芯片FDP250K的逻辑资源进行了严格、充分的测试，从FPGA最小的逻辑单元LC开始，首先得到一个LC的测试配置，再结合SLICE内部两个LC的连接关系得到一个SLICE逻辑单元的4种测试配置，并且采用阵列化的测试方案，同时测试芯片内部所有的逻辑单元，使得FPGA内部的逻辑资源得完全充分的测试，测试的故障覆盖率可达100％，测试配置由配套编程工具产生，测试取得了完满的结果。
上传时间： 2013-06-29
上传用户：Thuan
c8051编程器资料，u-ec2,u-ec5,u-pdc 资料
上传时间： 2013-05-31
上传用户：1134473521
