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指纹比对

  • 镁合金微弧氧化电源驱动电路的可靠性分析

    微弧氧化是一种新型的表面处理方法,利用该电路可输出双端不对称的高压脉冲,且脉冲幅值、频率、占空比均在一定范围内连续可调。本文首先介绍了微弧氧化电源技术的发展现状,然后对试验中使用过的几种IGBT驱动模块M57959、2ED300、2SD315 3种驱动电路的结构、工作原理和使用性能做了详细分析对比。实验表明,Eupec系列的2ED300驱动电路结构简单,可靠性高,适用于大功率微弧氧化电源的驱动。

    标签: 镁合金 氧化 可靠性分析 电源驱动电路

    上传时间: 2014-01-21

    上传用户:hahayou

  • 对低压差稳压器工作与性能的技术综论TI

    对低压差稳压器工作与性能的技术综论TI

    标签: 低压差稳压器 性能

    上传时间: 2013-11-07

    上传用户:lvzhr

  • 交流电流的趋肤效应及其对载流导线损耗的影响

    交流电流的趋肤效应及其对载流导线损耗的影响,设计时可以进行参考,很好很实用的资料!

    标签: 交流电流 趋肤效应 导线 损耗

    上传时间: 2013-11-12

    上传用户:思琦琦

  • 一种高电源抑制比的CMOS带隙基准电压源设计

    介绍一种基于CSMC0.5 μm工艺的低温漂高电源抑制比带隙基准电路。本文在原有Banba带隙基准电路的基础上,通过采用共源共栅电流镜结构和引入负反馈环路的方法,大大提高了整体电路的电源抑制比。 Spectre仿真分析结果表明:在-40~100 ℃的温度范围内,输出电压摆动仅为1.7 mV,在低频时达到100 dB以上的电源抑制比(PSRR),整个电路功耗仅仅只有30 μA。可以很好地应用在低功耗高电源抑制比的LDO芯片设计中。

    标签: CMOS 高电源抑制 带隙基准 电压源

    上传时间: 2013-10-27

    上传用户:thesk123

  • DN502 - 面向精准放大器应用的匹配电阻器网络

    某些理想的运算放大器配置假定反馈电阻器呈现完美的匹配。而实际上,电阻器的非理想性会对各种电路参数产生影响,例如:共模抑制比 (CMRR)、谐波失真和稳定性

    标签: 502 DN 精准放大器 匹配电阻

    上传时间: 2013-12-19

    上传用户:2525775

  • N+缓冲层对PT-IGBT通态压降影响的研究

     N+缓冲层设计对PT-IGBT器件特性的影响至关重要。文中利用Silvaco软件对PT-IGBT的I-V特性进行仿真。提取相同电流密度下,不同N+缓冲层掺杂浓度PT-IGBT的通态压降,得到了通态压降随N+缓冲层掺杂浓度变化的曲线,该仿真结果与理论分析一致。对于PT-IGBT结构,N+缓冲层浓度及厚度存在最优值,只要合理的选取可以有效地降低通态压降。

    标签: PT-IGBT 缓冲层

    上传时间: 2013-11-12

    上传用户:thesk123

  • 32位实时MCU电源管理解决方案

    C2000™ MCU 系列采用了 32 位架构、先进的外围电路和模拟集成,可在多种应用中实现完美的性能和实时控制。独特且功能齐全的外围电路包括一个无以伦比的单片 12.5-MSPS ADC、高分辨率 PWM、增强型捕获单元等等。根据对系统的限制,如最低的待机电流、成本要求或最小的解决方案尺寸需求,TI 提供最佳的产品为使用 C2000 MCU 的系统提供支持。

    标签: MCU 电源管理 方案

    上传时间: 2013-10-27

    上传用户:yepeng139

  • 高电源抑制比带隙基准电路设计

    介绍一种高电源抑制比带隙基准电路的设计与验证

    标签: 高电源抑制 带隙基准 电路设计

    上传时间: 2013-10-08

    上传用户:642778338

  • 一种高电源抑制比全工艺角低温漂CMOS基准电压源

    基于SMIC0.35 μm的CMOS工艺,设计了一种高电源抑制比,同时可在全工艺角下的得到低温漂的带隙基准电路。首先采用一个具有高电源抑制比的基准电压,通过电压放大器放大得到稳定的电压,以提供给带隙核心电路作为供电电源,从而提高了电源抑制比。另外,将电路中的关键电阻设置为可调电阻,从而可以改变正温度电压的系数,以适应不同工艺下负温度系数的变化,最终得到在全工艺角下低温漂的基准电压。Cadence virtuoso仿真表明:在27 ℃下,10 Hz时电源抑制比(PSRR)-109 dB,10 kHz时(PSRR)达到-64 dB;在4 V电源电压下,在-40~80 ℃范围内的不同工艺角下,温度系数均可达到5.6×10-6 V/℃以下。

    标签: CMOS 高电源抑制 工艺 基准电压源

    上传时间: 2014-12-03

    上传用户:88mao

  • 德州仪器技术专家分享:LDO噪声详解

      随着通信信道的复杂度和可靠性不断增加,人们对于电信系统的要求和期望也不断提高。这些通信系统高度依赖于高性能、高时钟频率和数据转换器器 件,而这些器件的性能又非常依赖于系统电源轨的质量。当使用一个高噪声电源供电时,时钟或者转换器 IC 无法达到最高性能。仅仅只是少量的电源噪声,便会对性能产生极大的负面影响。本文将对一种基本 LDO 拓扑进行仔细研究,找出其主要噪声源,并给出最小化其输出噪声的一些方法。   表明电源品质的一个关键参数是其噪声输出,它常见的参考值为 RMS 噪声测量或者频谱噪声密度。为了获得最低 RMS 噪声或者最佳频谱噪声特性,线性电压稳压器(例如:低压降电压稳压器,LDO),始终比开关式稳压器有优势。这让其成为噪声敏感型应用的选择。   基本 LDO 拓扑   一个简单的线性电压稳压器包含一个基本控制环路,其负反馈与内部参考比较,以提供恒定电压—与输入电压、温度或者负载电流的变化或者扰动无关。    图 1 显示了一个 LDO 稳压器的基本结构图。红色箭头表示负反馈信号通路。输出电压 VOUT 通过反馈电阻 R1 和 R2 分压,以提供反馈电压 VFB。VFB 与误差放大器负输入端的参考电压 VREF 比较,提供栅极驱动电压 VGATE。最后,误差信号驱动输出晶体管 NFET,以对 VOUT 进行调节。    图 1 LDO 负反馈环路    简单噪声分析以图 2 作为开始。蓝色箭头表示由常见放大器差异代表的环路子集(电压跟随器或者功率缓冲器)。这种电压跟随器电路迫使 VOUT 跟随 VREF。VFB 为误差信号,其参考 VREF。在稳定状态下,VOUT 大于 VREF,其如方程式 1 所描述:

    标签: LDO 德州仪器

    上传时间: 2013-11-11

    上传用户:jiwy