介绍了模拟数字转换器静态和动态参数测试技术以及实现测试的硬件平台及软件 环境,采用斜波或纯正弦信号作为输入信号,用数字集成电路测试系统控制采样,并将模拟数字 转换后的数据存储,利用测试系统内的软件将存储数据进行变换,来获得模拟数字转换器的静态 参数和动态参数测试结果。该测试方法具有可编程的优点,是非常适用的测试方法。
上传时间: 2013-11-30
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题 目: 判别图中两个顶点之间的简单路径的程序设计 初始条件: (1) 采用邻接表作为存储结构。 (2) 编写程序判别无向图中任意给定的两个顶点之间是否存在一条长度为k的简单路径。 (3) 测试用例自己设计。
上传时间: 2016-08-01
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这是用于线性方程组求解的ILUK预处理算法的实现。在VC++编译通过。矩阵采用压缩稀疏行格式存储(CSR),采用如下结构存储:struct Distmatrix {double **ma int **ja,dimension,*nnzrow } 很容易移植到自己定义数值计算软件包中。经本人测试计算效率比Fortran写的高很多(比如与Sparskit2比较)。
上传时间: 2016-12-15
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I2C存储芯片24C016大全,驱动完整,测试通过
上传时间: 2013-11-26
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C语言嵌入式系统编程修炼(键盘操作).mht Keil C51与标准C比较.mht Keil C51下快速小数运算算法.mht 用C51实现PID算法.mht C51指针类型和存储区的关系详解.mht C语言指针学习.mht C语言测试:嵌入式程序员必须知道的16个问题.htm C51编程技巧-从单片机指针说到黑客程序.htm 单片机C51编程规范.mht 实用C51编程的高级技巧(C51编程).htm C51编程技巧.CHM 全局变量,局部变量,函数被static修饰后.txt 文件目录表绘制.cmd 文件夹目录.txt 文件名目录.txt
上传时间: 2014-01-25
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avr应用测试程序,包括数据采集、通信、SD卡数据存储,及各种子程序。
上传时间: 2017-02-16
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Fusion的Flash memory测试,实现存储和调用。
上传时间: 2017-03-10
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目 录 第一章 VHDL文本输入设计方法 1.1 编辑输入并存盘VHDL原文件 1.2 将当前设计设定为工程 1.3 选择VHDL文本编译版本号和排错 1.4 时序仿真 1.5 硬件测试 1.6 部分实验 第二章 全国大学生电子设计竞赛赛题练习 2.1 等精度频率计设计 2.2 数字移相正弦信号发生器设计 2.3 测相仪设计 2.4 逻辑分析相仪设计 2.5 存储示波器设计
上传时间: 2014-12-02
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24co4的一个简单的测试程序,能存储能取,可以根据需要更改数据的多少
上传时间: 2013-12-08
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(1)测试外部数据RAM: 根据我们定义的逻辑,外部RAM在数据空间中定义在0x8000-0xFFFF,共32k字,占据RAM中的低32K存储空间。提供2种测试方法,采用一种方式即可。 硬件仿真模式下,将目标板上电。 第一种方法:采用用程序测试实验 程序所在目录ex1_RAMTest。 该程序执行的功能是对外部数据RAM区0x8000-0xFFFF,从0x8000开始写并且读数据0x5555 。如果正常则写读下一个地址,直到 。如果正常则所有的地址操作完毕后,核心板的指示灯会变亮。否则,如果写入数据后,读出的不正确,则指示灯会不断闪烁。 在CCS2000中的操作如下: 1. Progect->Open,打开该目录中的工程文件。 2. Progect->Rebuild All,编译链接 3. File->Program 4. Debug->Go Main 5. Debug->RUN(快捷键F5) 如果正常可以看到灯在熄灭约4秒后变亮。(说明:对整个数据RAM区的操作时间其实很短,为便于观察,本程序中加入了延时)。 打开View->Memory ,然后填入地址0x8000,然后在PAGE栏选择DATA。点击确定,即可显示0x8000地址开始的数据,用户会发现从这个地址开始往后的数据均为刚被写入的0x5555。
上传时间: 2013-12-08
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