电子元器件可靠性和失效分析经典文章(共38篇) 3.9M pdf.rar
电子工艺,质量及可靠性相关专辑 80册 902M电子元器件可靠性和失效分析经典文章(共38篇) 3.9M pdf.rar...
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查看全部10000个资源 »IC智能卡失效机理研究
摘要:IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题,严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引线键合断裂、静电放电损伤等失效模式和失效机理,并结合IC卡制造工艺和失效IC卡的分析实例,对引起这些失效的根本原因作了深入探讨,就提...
FMEA失效模式公析表.xls
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【0】工艺质量（可靠性、电磁兼容、抗干扰、WDT、品管）->品质管理范本->FMEA失效模式公析表.xls...
电容器的常见失效模式
电容器的常见失效模式有很多种，本文从失效分析的角度进行了总结。...
FMEA潜在失效模式及后果分析
虽然许多工程技术人员早已在他们的设计或制造过程中应用了FMEA这一分析方法。但首次正式应用FMEA技术则是在六十年代中期航天工业的一项革新。FMEA是一组系统化的活动，其目的是：发现、...
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