功率电源中IGBT失效机理及其检测方法的研究.rar
由于绝缘栅双极晶体管IGBT具有工作频率高、处理功率大和驱动简单等诸多优点,在电力电子设备、尤其是中大型功率的电力电子设备中的应用越来越广泛。但是,IGBT失效引发的设备故障往往会对生产带来巨大影响和损失,因此,对IGBT的失效研究具有十分重要的应用意义。 本文在深入分析IGBT器件工作原理和工作特...
失效机理技术资料
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失效机理是电子工程中至关重要的研究领域，深入探讨了电子元器件及系统在特定条件下性能下降直至失效的过程与原因。涵盖从半导体材料老化、焊接点裂纹到电路板腐蚀等多种现象，广泛应用于可靠性设计、故障诊断及预防维护等领域。掌握失效机理不仅能够帮助工程师提高产品寿命和稳定性，还能有效降低研发成本。本站汇集365份精选资料，包括案例分析、实验报告及理论研究，助力您成为该领域的专家。
🔥 失效机理热门资料
查看全部365个资源 »IC智能卡失效机理研究
摘要:IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题,严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引线键合断裂、静电放电损伤等失效模式和失效机理,并结合IC卡制造工艺和失效IC卡的分析实例,对引起这些失效的根本原因作了深入探讨,就提...
高频硅PNP晶体管3CG120高温失效机理研究
为了保证在高温条件下，正确使用高频硅PNP晶体管3CG120，文中对3CG120在不同温度段的失效机理进行了研究。通过对硅PNP型晶体管3CG120进行170~340 ℃温度范围内序进应力加速寿命试验，发现在170~240 ℃，240~290 ℃，以及290~340 ℃分别具有不同的失效机理...
芯片实效分析技术 1、失效分析方法和技术 2、失效机理和相应的分析技术 3、分析案例
芯片实效分析技术 1、失效分析方法和技术 2、失效机理和相应的分析技术 3、分析案例...
独家电子元器件失效分析与典型案例
电子元器件失效分析与典型案例系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。基础篇阐述电子元器件失效分析的目的和意义、失效分析程序、失效分析技术以及失效分析主要仪器设备与工具；案例篇按照元器件门类分为九章，即集成电路、微波器件、混合集成电路、分立器件、阻容元件、继电器和连接...
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