CPU可测试性设计
可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU，综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片...
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高清电子书-C++ Primer Plus 第6版英文版 1438页
高清电子书-C++ Primer Plus, 第6版英文版 1438页Learning C++ is an adventure of discovery, particularly because the language accommodates several programming parad...
直流电动机测速装置
本系统采用电动机电枢供电回路串接采样电阻的方式来实现对小型直流有刷电动机的转速测量。该系统主要由二阶低通滤波电路,小信号放大电路、单片机测量显示电路、开关稳压电源电路等组成。同时自制电机测速装置,用高频磁环作为载体,用线圈绕制磁环,利用电磁感应原理检测电机运行时的漏磁,将变化的磁场信号转化为磁环上的...
路斯特ServoOne手册
German universities and scientists have repeatedly set the intermational standard in drive technology. Identification and active compensation of natur...
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