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高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA...

📅 2013-06-07

硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看. 硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看....

📅 2013-07-29

·详细说明：C#环境的车牌认别系统源代码和30张测试图片；本程序对以上的30汽车图片的认别定位分割等准确率达至100％。文件列表:   sample   ......\App.ic...

📅 2013-07-11

电源在EMI与安规方面设计技巧，原理讲的非常清楚。...

📅 2013-07-01

·本书定量地阐述了电磁干扰（EMI）的诊断和故障解决的电磁兼容（EM）技术，以及使用的仪器设备；定量地阐述了现场实际EMC测试中的电磁干扰问题、感性的串联损耗电磁兼容解决方案、传导型问题解决方案的工作...

📅 2013-04-24

·[测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND MIXED-SIGNAL VLSI CIRCUITS ...

📅 2013-07-21

·详细说明：H.263编解码原程序及测试程序源码,含测试序列,很难得的测试程序源代码.文件列表:   H.263编解码原程序及测试程序源码   .....................

📅 2013-06-18

·采用G.729的语言实时通信DLL(含测试源代码)...

📅 2013-05-19

·何秀伟《电机测试技术》...

📅 2013-06-02

·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建...

📅 2013-04-24

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