开发时遇到的RSA加解密总结，php与java对接
标签： RSA
上传时间： 2015-05-04
上传用户：xgj1881
ZEND针对PHP5.4.X系列推出的加解密插件.目前是32位版的.DLL下载 ZendGuardLoader PHP 5.4.X .DLL
标签： zend
上传时间： 2015-05-05
上传用户：yangpan
1.此代码基于红牛开发板，请根据自己的板子进行修改。 2.通过修改网上的代码实现，修改前的功能开了一个很大的缓存接收app数据，然后一次性全部数据写入， 但是这个在实际应用中没多大用，所以修改为一次写入128个字节。 3.程序flash的偏移地址为0x8010000，所以app编译前应该在mdk中设置 Option窗口->Target页->IROM1,start 改为 0x8010000 4.设置中断向量重映射，我用的方法是在app端的main函数起始位置添加语句 SCB->VTOR = FLASH_BASE | 0x10000; 5.启动时如果发现没有app，会进入bootloader模式（灯全亮）,如果发现有程序就要看程序的功能了。 如果有app，但是又想重新升级的话就按住某个键（我这里是Tamper），然后按复位，松开复位之前不要松开 按键，这样就会进入bootloader模式。 6.进入bootloader后通过串口1接收升级app数据，bin文件数据，接收完成后按User1键进行升级操作，完成后 复位或者按User2键可以运行刚写入的app。
上传时间： 2015-05-18
上传用户：llma2017
完整的AES加解密Verilog代码。。。供大家分享。。。
上传时间： 2018-01-24
上传用户：crazyhertz007
C语言实现椭圆曲线加解密，通俗易懂，适合学生工作人员讨论分析
上传时间： 2018-09-27
上传用户：zsb123456
用于开发单片机的！！！超级单片机开发工具！！！ 单片机开发过程中用到的多功能工具，包括热敏电阻RT值--HEX数据转换；3种LED编码；色环电阻计算器；HEX/BIN 文件互相转换；eeprom数据到C/ASM源码转换；CRC校验生成；串口调试，带简单而实用的数据分析功能；串口/并口通讯监视等功能. 用C++ Builder开发，无须安装，直接运行，不对注册表进行操作。纯绿色软件。 详细说明： 1、RT转换：支持两种电路，8/10位转换精度，生成C/ASM源代码格式的数据，可手工输入数据或从文件中读取，输入的数据可以保存到文件中。文件格式为逗号分隔符： 温度，阻值 2、LED编码信息：可以支持 7段/14段/16段 LED，支持 C/ASM 语法，可生成 4/8 位编码，4位编码主要用于某些 LCD 驱动芯片。其中 7 段码包括：0 -- F (Hex) 14 段码包括：A -- Z, 0 -- F 16 段码包括：A -- Z, 0 -- F 编码方案可以保存供将来使用。 使用方法请点帮助。 3、色环电阻计算器功能。 4、HEX/BIN 文件相互转换； HEX/BIN 转换成 C/ASM 源代码格式，适用于eeprom数据等处理。 加入CRC校验码生成功能。其中生成BIN文件时自动生成校验码，Get CRC 可生成任意文件的CRC码。 另外还有相关知识、资料等。 5、串口调试具有 a. 基本通讯功能； b. 数据分析功能，可自定义通讯数据中的变量，包括变量名、变量类型（长度），显示方式等； 内存映射功能中自定义变量的起始地址即内存起始地址，可自定义； 由map文件自动读取内存变量（因条件所限，目前只支持由 ImageCraft C(ICC) 编译器产生的map文件，欢迎提供其他编译器的map文件样本）； 可自定义内存块的起始/结束标志； 历史数据保存功能； c. 交互式通讯， 主发时可自定义多命令自动循环发送； 从发时可定义接收到相应命令后的应答数据并自动应答； 6、串口监视功能 目前具有本功能的多为共享软件，本软件中没有任何限制。 实时监视串口操作而不占用串口资源，可保存历史数据，2k下测试通过，98下使用捕捉时可能会有点问题，没有进行调试。 并口监视应该可以使用，没有调试。 各种工具
标签： 单片机
上传时间： 2019-05-27
上传用户：小爱心早餐
宏程序助手是针对FANUC用户宏程序系统而开发的软件。 你可以使用它来分析FANUC的用户宏程序，它会向你列 出该宏程序所使用的宏变量及其作用。你还可以自己定制 宏程序助手的宏变量数据库，使其更好地为你服务。 宏程序助手还有一个很重要的功能，他可以通过读取 FANUC系统的FDB（系统数据的二进制文件）来获得系统 的宏程序密码，这样你可以地读取和编辑已加密的宏程序。
上传时间： 2020-09-14
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通过文件IO读取航班信息文件的数据 利用链表来存储航班数据，并进行查询、修改等操作 通过链表将修改后的数据重新写入文件
上传时间： 2021-02-01
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本文件包括了一系列应力测试失效机理、 最低应力测试认证要求的定义及集成电路认证的参考测试条件。 这些测试能够模拟跌落半导体器件和封装失效， 目的是能够相对于一般条件加速跌落失效。 这组测试应该是有区别的使用，每个认证方案应检查以下： a、任何潜在新的和独特的失效机理；b、任何应用中无显现但测试或条件可能会导致失效的情况；c、任何相反地会降低加速失效的极端条件和应用 。使用本文件并不是要解除 IC 供应商对自己内部认证项目的责任性， 其中的使用者被定义为所有按照规格书使用其认证器件的客户， 客户有责任去证实确认所有的认证数据与本文件相一致。 供应商对由其规格书里所陈述的器件温度等级的使用是非常值得提倡的。 此规格的目的是要确定一种器件在应用中能够通过应力测试以及被认为能够提供某种级别的品质和可靠性。 如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果， 那么将允许供应商声称他们的零件通过了 AEC Q100认证。供应商可以与客户协商，可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些， 但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了 AEC Q100认证。
上传时间： 2022-05-08
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可量产的大功率电子烟原理图加PCB文件，格式pads9.5！
上传时间： 2022-05-18
上传用户：jason_vip1
