AEC-Q100G 中文资料
本文件包括了一系列应力测试失效机理、 最低应力测试认证要求的定义及集成电路认证的参考测试条件。 这些测试能够模拟跌落半导体器件和封装失效， 目的是能够相对于一般条件加速跌落失效。 这组测试应该是有区别的使用，每个认证方案应检查以下： a、任何潜在新的和独特的失效机理；b、任何应用中无显现但测试或条件...
AEC-Q100G技术资料
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AEC-Q100G是汽车电子委员会针对集成电路制定的可靠性测试标准，确保车载电子组件在极端环境下的稳定性和耐用性。该认证覆盖了从设计到生产的整个流程，适用于动力系统、安全控制等关键领域。掌握AEC-Q100G相关知识不仅有助于提升产品竞争力，还能加速项目通过严苛的质量审核。我们提供了14份精选资料，涵盖测试方法详解与案例分析，助力工程师深入理解并应用这一重要规范。
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