基于SO 测试的IEEE P1500
随着集成电路技术的飞速发展以及SOC 系统的出现，电路的测试难度在不断增大，严重制约了SOC 技术的发展，文中从SOC 可测性设计出发全面介绍IEEE P1500，通过研究对比当前适用于SOC 领域的...
P1500技术资料
📦 资源总数：3
💻 源代码：1
🔥 P1500热门资料
数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计（影印版）
·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包括重用...
数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计（影印版）
·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包括重用...
💻 P1500源代码
查看更多 »📂 P1500资料分类