📚 P1500技术资料

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随着集成电路技术的飞速发展以及SOC 系统的出现，电路的测试难度在不断增大，严重制约了SOC 技术的发展，文中从SOC 可测性设计出发全面介绍IEEE P1500，通过研究对比当前适用于SOC 领域的...

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·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建...

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