搜索：BIST
找到约 12 项符合「BIST」的查询结果
结果 12
https://www.eeworm.com/dl/1011901.html
技术资料
ROM BIST介绍
难得一见的ROM BIST完整技术解析，涵盖测试架构与实现方法，是DFT工程师必备的深度资料。
https://www.eeworm.com/dl/cadence/ebook/359961.html
电子书籍
用于SoC设计的DFT和BIST
用于SoC设计的DFT和BIST，讲解了在SOC设计中需要考虑的可测性设计问题
https://www.eeworm.com/dl/663/271056.html
VHDL/FPGA/Verilog
BIST 电路IP核的VHDL语言源代码
BIST 电路IP核的VHDL语言源代码，需要的开发环境是QUARTUS II 6.0。
https://www.eeworm.com/dl/692/487649.html
行业发展研究
A BIST (BUILT-IN SELF-TEST) STRATEGY FOR MIXED-SIGNAL INTEGRATED CIRCUITS
A BIST (BUILT-IN SELF-TEST) STRATEGY FOR
MIXED-SIGNAL INTEGRATED CIRCUITS
https://www.eeworm.com/dl/901369.html
技术资料
基于BIST的带时延故障的FPGA测试
随着超大规模集成电路的迅速发展，90纳米技术已经应用，上千万门的集成电路已经产生。一方面，芯片封装越来越小，引脚越来越密，印制电路饭的密度日益增大，芯片的互连测试成为一个亟待解决的问题。另一方面，芯片或功能模块内部有很多节点无法探测，对这些节点和功能块测试是又一个测试的难题。随着集 ...
https://www.eeworm.com/dl/537/14977.html
技术书籍
数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计（影印版）
·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包 ...
https://www.eeworm.com/dl/881466.html
技术资料
数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计（影印版）
·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包 ...
https://www.eeworm.com/dl/896996.html
技术资料
FPGA时延故障测试技术研究.rar
现场可编程门阵列FPGA是一种现场可编程专用集成电路，它将通用门阵列结构与现场可编程的特性结合于一体，如今，FPGA系列器件己成为最受欢迎的器件之一。随着FPGA器件的应用越来越广泛，FPGA的测试技术得到了广泛重视和研究。基于FPGA可编程的特性，应用独立的测试(工厂测试)需要设计数个测试编程和测试 ...
https://www.eeworm.com/dl/896449.html
技术资料
动态可重构FPGA的电路测试技术研究.rar
随着基于SRAM的FPGA的集成度的提高，使得能够在较短的开发周期内实现复杂的电路。但是在对安全性有严格要求的应用领域，如航空，航天，基于SRAM的FPGA不能保证足够可靠。主要障碍在于在这种环境下面，FPGA对于辐射很敏感。国内外有很多关键应用都要求使用可靠性的技术，同时又要求使用FPGA实现系统设计 ...