odbus RTU的AVR单片机C程序,可以用来与具有或支持modbus协议的设备进行通信
上传时间： 2013-05-31
上传用户：博雅abcd
UCOS在AVR上的移植使用WINAVR.rar
上传时间： 2013-04-24
上传用户：huxz911
智能型充电器电源和显示的设计 随着越来越多的手持式电器的出现，对高性能、小尺寸、重量轻的电池充电器的需求也越来越大。电池技术的持续进步也要求更复杂的充电算法以实现快速、安全的充电。因此需要对充电过程进行更精确的监控，以缩短充电时间、达到最大的电池容量，并防止电池损坏。AVR 已经在竞争中领先了一步，被证明是下一代充电器的完美控制芯片。Atmel AVR 微处理器是当前市场上能够以单片方式提供Flash、EEPROM 和10 位ADC的最高效的8 位RISC 微处理器。由于程序存储器为Flash，因此可以不用象MASK ROM一样，有几个软件版本就库存几种型号。Flash 可以在发货之前再进行编程，或是在PCB贴装之后再通过ISP 进行编程，从而允许在最后一分钟进行软件更新。EEPROM 可用于保存标定系数和电池特性参数，如保存充电记录以提高实际使用的电池容量。10位A/D 转换器可以提供足够的测量精度，使得充好后的容量更接近其最大容量。而其他方案为了达到此目的，可能需要外部的ADC，不但占用PCB 空间，也提高了系统成本。AVR 是目前唯一的针对像 “C”这样的高级语言而设计的8 位微处理器。C 代码似的设计很容易进行调整以适合当前和未来的电池，而本次智能型充电器显示程序的编写则就是用C语言写的。
上传时间： 2013-05-18
上传用户：zhaiye
AVR单片机的一些实例程序，可以参考下，大部分可以当做你的子程序收藏喔！
上传时间： 2013-06-19
上传用户：ndyyliu
AVR单片机I2C总线实验。 1、用24C02记录CPU启动次数，并在PB口上显示出来。 2、内部1 M晶振，程序采用单任务方式，软件延时。 3、进行此实验请插上JP1的所有8个短路块，JP7(LED_EN)/PC0/PC1短路块。 4、通过此实验，可以I2C总线操作有个初步认识。
上传时间： 2013-07-28
上传用户：cylnpy
AVR-51多功能实验开发板电原理图。详细图解，作板子更简单
上传时间： 2013-04-24
上传用户：dylutao
PID算法在AVR单片机上的应用，风机的闭环控制
上传时间： 2013-04-24
上传用户：aa17807091
AVR单片机软硬件设计教程-入门篇 ——学单片机就要学AVR！
上传时间： 2013-05-30
上传用户：h886166
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词：ADC测试；并行；参数评估；FPGA；FFT
上传时间： 2013-07-11
上传用户：tdyoung
本源程序是基于AVR单片机环境下，对GPS模块信号进行分离、处理以及信息显示的功能。
上传时间： 2013-04-24
上传用户：woshiyaosi
