仓库管理系统 第一章 前言 2 1 开发工具 2 2 运行环境 2 3 pb简介 3 4 SQL7.0 简介 3 第二章 仓库管理系统分析与设计 3 1 系统目标设计 3 2 仓库管理系统的用户需求 3 3 开发设计思想 4 4 功能分析 4 5 功能模块设计 5 第三章：数据库设计 5 3.1 数据库环境的建立 5 3．2数据库需求分析 7 3．3 数据库概念结构设计 8 3．4 数据库逻辑结构设计 9 3．5 数据库结构的实现 11 第四章 功能模块设计 14 4．1 登陆程序设计 14 4.2修改密码程序的设计 15 4．3 设备入库窗口的创建 16 4．3 出库模块设计 20 4．4 设备采购窗口的创建 23 4．5 设备采购报表窗口的创建 24 4.6 库存报警窗口设计 26 4.7 操作日志模块的设计 28 第五章 系统的实现 29 5．1菜单设计 29 5．2调试及运行 29 第六章 后记 30 6．1教训与经验总结 30 6．2总结 30 致谢 31 参考文献 31
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十一、程序维护手册 1．引言 1 1.1编写目的 1 1.2开发单位 1 1.3定义 2 1.4参考资料 2 2．系统说明 2 2.1系统用途 2 2.2安全保密 2 2.3总体说明 2 2.4程序说明 2 3．操作环境 2 3.1设备 2 3.2支持软件 2 3.3数据库 2 4．维护过程 2 4.1约定 2 4.2验证过程 2 4.3出错及纠正方法 2 4.4专门维护过程 2 4.5专用维护程序 2 4.6程序清单和流程图 2
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基于Verilog-HDL的硬件电路的实现 9.4 脉冲频率的测量与显示 9.4.1 脉冲频率的测量原理 9.4.2 频率计的工作原理 9.4.3 频率测量模块的设计与实现 9.4.4 while循环语句的使用方法 9.4.5 门控信号发生模块的设计与实现 9.4.6 频率计的Verilog-HDL描述 9.4.7 频率计的硬件实现
标签： Verilog-HDL 9.4 脉冲 频率
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选择RAO做为模拟输入通道； 连续转换4次再求平均值做为转换结果 最后结构只取低8位 结果送数码管的低3位显示 硬件要求：拨码开关S14第2位置ON，第1位置OFF 拨码开关S6全部置ON，S5第4-6位置ON，第1-3位置OFF 为不影响结果，其他拨码开关置OFF。
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第4章 初始化与清除 55 4.1 用构造函数确保初始化 55 4.2 用析构函数确保清除 56 4.3 清除定义块 58 4.3.1 for循环 59 4.3.2 空间分配 60 4.4 含有构造函数和析构函数的stash 61 4.5 含有构造函数和析构函数的stack 63 4.6 集合初始化 65 4.7 缺省构造函数 67 4.8 小结 68 4.9 练习 68
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软件思路：选择RAO做为模拟输入通道 连续转换4次再求平均值做为转换结果最后结构只取低8位结果送数码管的低3位显示 硬件要求：拨码开关S14第2位置ON，第1位置OFF拨码开关S6全部置ON，S5第4-6位置ON，第1-3位置OFF为不影响结果，其他拨码开关置OFF。
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电子元器件抗ESD技术讲义:引 言 4 第1 章 电子元器件抗ESD损伤的基础知识 5 1.1 静电和静电放电的定义和特点 5 1.2 对静电认识的发展历史 6 1.3 静电的产生 6 1.3.1 摩擦产生静电 7 1.3.2 感应产生静电 8 1.3.3 静电荷 8 1.3.4 静电势 8 1.3.5 影响静电产生和大小的因素 9 1.4 静电的来源 10 1.4.1 人体静电 10 1.4.2 仪器和设备的静电 11 1.4.3 器件本身的静电 11 1.4.4 其它静电来源 12 1.5 静电放电的三种模式 12 1.5.1 带电人体的放电模式(HBM) 12 1.5.2 带电机器的放电模式（MM） 13 1.5.3 充电器件的放电模型 13 1.6 静电放电失效 15 1.6.1 失效模式 15 1.6.2 失效机理 15 第2章 制造过程的防静电损伤技术 2.1 静电防护的作用和意义 2.1.1 多数电子元器件是静电敏感器件 2.1.2 静电对电子行业造成的损失很大 2.1.3 国内外企业的状况 2.2 静电对电子产品的损害 2.2.1 静电损害的形式 2.2.2 静电损害的特点 2.2.3 可能产生静电损害的制造过程 2.3 静电防护的目的和总的原则 2.3.1 目的和原则 2.3.2 基本思路和技术途径 2.4 静电防护材料 2.4.1 与静电防护材料有关的基本概念 2.4.2 静电防护材料的主要参数 2.5 静电防护器材 2.5.1 防静电材料的制品 2.5.2 静电消除器（消电器、电中和器或离子平衡器） 2.6 静电防护的具体措施 2.6.1 建立静电安全工作区 2.6.2 包装、运送和存储工程的防静电措施 2.6.3 静电检测 2.6.4 静电防护的管理工作 第3章 抗静电检测及分析技术 3.1 抗静电检测的作用和意义 3.2 静电放电的标准波形 3.3 抗ESD检测标准 3.3.1 电子元器件静电放电灵敏度（ESDS）检测及分类的常用标准 3.3.2 标准试验方法的主要内容（以MIL-STD-883E 方法3015.7为例） 3.4 实际ESD检测的结果统计及分析 3.4.1 试验条件 3.4.2 ESD评价试验结果分析 3.5 关于ESD检测中经常遇到的一些问题 3.6 ESD损伤的失效定位分析技术 3.6.1 端口I－V特性检测 3.6.2 光学显微观察 3.6.3 扫描电镜分析 3.6.4 液晶分析 3.6.5 光辐射显微分析技术 3.6.6 分层剥离技术 3.6.7 小结 3.7 ESD和EOS的判别方法讨论 3.7.1 概念 3.7.2 ESD和EOS对器件损伤的分析判别方法 第4 章 电子元器件抗ESD设计技术 4.1 元器件抗ESD设计基础 4.1.1抗ESD过电流热失效设计基础 4.1.2抗场感应ESD失效设计基础 4.2元器件基本抗ESD保护电路 4.2.1基本抗静电保护电路 4.2.2对抗静电保护电路的基本要求 4.2.3 混合电路抗静电保护电路的考虑 4.2.4防静电保护元器件 4.3 CMOS电路ESD失效模式和机理 4.4 CMOS电路ESD可靠性设计策略 4.4.1 设计保护电路转移ESD大电流。 4.4.2 使输入/输出晶体管自身的ESD阈值达到最大。 4.5 CMOS电路基本ESD保护电路的设计 4.5.1 基本ESD保护电路单元 4.5.2 CMOS电路基本ESD保护电路 4.5.3 ESD设计的辅助工具－TLP测试 4.5.4 CMOS电路ESD保护设计方法 4.5.5 CMOS电路ESD保护电路示例 4.6 工艺控制和管理
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一本很好的汇编语言教程，跟大家一起分享 课程介绍 第1章 预备知识 1.1 汇编语言的由来及其特点 1 机器语言 2 汇编语言 3 汇编程序 4 汇编语言的主要特点 5 汇编语言的使用领域 1.2 数据的表示和类型 1 数值数据的表示 2 非数值数据的表示 3 基本的数据类型 1.3 习题 第2章 CPU资源和存储器 2.1 寄存器组 1 寄存器组 2 通用寄存器的作用 3 专用寄存器的作用 2.2 存储器的管理模式 1 16位微机的内存管理模式 2 32位微机的内存管理模式 2.3 习题 第3章 操作数的寻址方式 3.1 立即寻址方式 3.2 寄存器寻址方式 3.3 直接寻址方式 3.4 寄存器间接寻址方式 3.5 寄存器相对寻址方式 3.6 基址加变址寻址方式 3.7 相对基址加变址寻址方式 3.8 32位地址的寻址方式 3.9 操作数寻址方式的小结 3.10 习题 第4章 标识符和表达式 4.1 标识符 4.2 简单内存变量的定义 1 内存变量定义的一般形式 2 字节变量 3 字变量 4 双字变量 5 六字节变量 6 八字节变量 7 十字节变量 4.3 调整偏移量伪指令 1 偶对齐伪指令 2 对齐伪指令 3 调整偏移量伪指令 4 偏移量计数器的值 4.4 复合内存变量的定义 1 重复说明符 2 结构类型的定义 3 联合类型的定义 4 记录类型的定义 5 数据类型的自定义 4.5 标号 4.6 内存变量和标号的属性 1 段属性操作符 2 偏移量属性操作符 3 类型属性操作符 4 长度属性操作符 5 容量属性操作符 6 强制属性操作符 7 存储单元别名操作符 4.7 表达式 1 进制伪指令 2 数值表达式 3 地址表达式 4.8 符号定义语句 1 等价语句 2 等号语句 3 符号名定义语句 4.9 习题 第5章 微机CPU的指令系统 5.1 汇编语言指令格式 1 指令格式 2 了解指令的几个方面 5.2 指令系统 1 数据传送指令 2 标志位操作指令 3 算术运算指令 4 逻辑运算指令 5 移位操作指令 6 位操作指令 7 比较运算指令 8 循环指令 9 转移指令 10 条件设置字节指令 11 字符串操作指令 12 ASCII-BCD码调整指令 13 处理器指令 5.3 习题 第6章 程序的基本结构 6.1 程序的基本组成 1 段的定义 2 段寄存器的说明语句 3 堆栈段的说明 4 源程序的结构 6.2 程序的基本结构 1 顺序结构 2 分支结构 3 循环结构 6.3 段的基本属性 1 对齐类型 2 组合类型 3 类别 4 段组 6.4 简化的段定义 1 存储模型说明伪指令 2 简化段定义伪指令 3 简化段段名的引用 6.5 源程序的辅助说明伪指令 1 模块名定义伪指令 2 页面定义伪指令 3 标题定义伪指令 4 子标题定义伪指令 6.6 习题 第7章 子程序和库 7.1 子程序的定义 7.2 子程序的调用和返回指令 1 调用指令 2 返回指令 7.3 子程序的参数传递 1 寄存器传递参数 2 存储单元传递参数 3 堆栈传递参数 7.4 寄存器的保护与恢复 7.5 子程序的完全定义 1 子程序完全定义格式 2 子程序的位距 3 子程序的语言类型 4 子程序的可见性 5 子程序的起始和结束操作 6 寄存器的保护和恢复 7 子程序的参数传递 8 子程序的原型说明 9 子程序的调用伪指令 10 局部变量的定义 7.6 子程序库 1 建立库文件命令 2 建立库文件举例 3 库文件的应用 4 库文件的好处 7.7 习题 第8章 输入输出和中断 8.1 输入输出的基本概念 1 I/O端口地址 2 I/O指令 8.2 中断 1 中断的基本概念 2 中断指令 3 中断返回指令 4 中断和子程序 8.3 中断的分类 1 键盘输入的中断功能 2 屏幕显示的中断功能 3 打印输出的中断功能 4 串行通信口的中断功能 5 鼠标的中断功能 6 目录和文件的中断功能 7 内存管理的中断功能 8 读取和设置中断向量 8.4 习题 第9章 宏 9.1 宏的定义和引用 1 宏的定义 2 宏的引用 3 宏的参数传递方式 4 宏的嵌套定义 5 宏与子程序的区别 9.2 宏参数的特殊运算符 1 连接运算符 2 字符串整体传递运算符 3 字符转义运算符 4 计算表达式运算符 9.3 与宏有关的伪指令 1 局部标号伪指令 2 取消宏定义伪指令 3 中止宏扩展伪指令 9.4 重复汇编伪指令 1 伪指令REPT 2 伪指令IRP 3 伪指令IRPC 9.5 条件汇编伪指令 1 条件汇编伪指令的功能 2 条件汇编伪指令的举例 9.6 宏的扩充 1 宏定义形式 2 重复伪指令REPEAT 3 循环伪指令WHILE 4 循环伪指令FOR 5 循环伪指令FORC 6 转移伪指令GOTO 7 宏扩充的举例 8 系统定义的宏 9.7 习题 第10章 应用程序的设计 10.1 字符串的处理程序 10.2 数据的分类统计程序 10.3 数据转换程序 10.4 文件操作程序 10.5 动态数据的编程 10.6 COM文件的编程 10.7 驻留程序 10.8 程序段前缀及其应用 1 程序段前缀的字段含义 2 程序段前缀的应用 10.9 习题 第11章 数值运算协处理器 11.1 协处理器的数据格式 1 有符号整数 2 BCD码数据 3 浮点数 11.2 协处理器的结构 11.3 协处理器的指令系统 1 操作符的命名规则 2 数据传送指令 3 数学运算指令 4 比较运算指令 5 超越函数运算指令 6 常数操作指令 7 协处理器控制指令 11.4 协处理器的编程举例 11.5 习题 第12章 汇编语言和C语言 12.1 汇编语言的嵌入 12.2 C语言程序的汇编输出 12.3 一个具体的例子 12.4 习题 附录
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- vii - 8.1.1 实验目的 315 8.1.2 实验设备 315 8.1.3 实验内容 315 8.1.4 实验原理 315 8.1.5 实验操作步骤 318 8.1.6 实验参考程序 319 8.1.7 练习题 321- vi - 6.4 USB 接口实验 266 6.4.1 实验目的 266 6.4.2 实验设备 267 6.4.3 实验内容 267 6.4.4 实验原理 267 6.4.5 实验操作步骤 270 6.4.6 实验参考程序 272 6.4.7 实验练习题 280 6.5 SPI接口通讯实验 281 6.5.1 实验目的 281 6.5.2 实验设备 281 6.5.3 实验内容 281 6.5.4 实验原理 281 6.5.5 实验操作步骤 285 6.5.6 实验参考程序 287 6.5.7 练习题 289 6.6 红外模块控制实验 289 6.6.1 实验目的 289 6.6.2 实验设备 289 6.6.3 实验内容 289 6.6.4 实验原理 289 6.6.5 实验操作步骤 291 6.6.6 实验参考程序 291 6.6.7 练习题 296 第七章 基础应用实验 296 7.1 A/D 转换实验 296 7.1.1 实验目的 296 7.1.2 实验设备 296 7.1.3 实验内容 296 7.1.4 实验原理 296 7.1.5 实验设计 298 7.1.6 实验操作步骤 299 7.1.7 实验参考程序 300 7.1.8 练习题 301 7.2 PWM步进电机控制实验 301 7.2.1 实验目的 301 7.2.2 实验设备 301 7.2.3 实验内容 301 7.2.4 实验原理 301 7.2.5 实验操作步骤 309 7.2.6 实验参考程序 311 7.2.7 练习题 313 第八章 高级应用实验 315 8.1 GPRS模块控制实验 315 - v - 5.2 5x4键盘控制实验 219 5.2.1 实验目的 219 5.2.2 实验设备 219 5.2.3 实验内容 219 5.2.4 实验原理 219 5.2.5 实验设计 221 5.2.6 实验操作步骤 222 5.2.7 实验参考程序 223 5.2.8 练习题 224 5.3 触摸屏控制实验 224 5.3.1 实验目的 224 5.3.2 实验设备 224 5.3.3 实验内容 224 5.3.4 实验原理 224 5.3.5 实验设计 231 5.3.6 实验操作步骤 231 5.3.7 实验参考程序 232 5.3.8 练习题 233 第六章 通信与接口实验 234 6.1 IIC 串行通信实验 234 6.1.1 实验目的 234 6.1.2 实验设备 234 6.1.3 实验内容 234 6.1.4 实验原理 234 6.1.5 实验设计 238 6.1.6 实验操作步骤 241 6.1.7 实验参考程序 243 6.1.8 练习题 245 6.2 以太网通讯实验 246 6.2.1 实验目的 246 6.2.2 实验设备 246 6.2.3 实验内容 246 6.2.4 实验原理 246 6.2.5 实验操作步骤 254 6.2.6 实验参考程序 257 6.2.7 练习题 259 6.3 音频接口 IIS 实验 260 6.3.1 实验目的 260 6.3.2 实验设备 260 6.3.3 实验内容 260 6.3.4 实验原理 260 6.3.5 实验步骤 263 6.3.6实验参考程序 264 6.3.7 练习题 266 - iv - 4.4 串口通信实验 170 4.4.1 实验目的 170 4.4.2 实验设备 170 4.4.3 实验内容 170 4.4.4 实验原理 170 4.4.5 实验操作步骤 176 4.4.6 实验参考程序 177 4.4.7 练习题 178 4.5 实时时钟实验 179 4.5.1 实验目的 179 4.5.2 实验设备 179 4.5.3 实验内容 179 4.5.4 实验原理 179 4.5.5 实验设计 181 4.5.6 实验操作步骤 182 4.5.7 实验参考程序 183 4.6.8 练习题 185 4.6 数码管显示实验 186 4.6.1 实验目的 186 4.6.2 实验设备 186 4.6.3 实验内容 186 4.6.4 实验原理 186 4.6.5 实验方法与操作步骤 188 4.6.6 实验参考程序 189 4.6.7 练习题 192 4.7 看门狗实验 193 4.7.1 实验目的 193 4.7.2 实验设备 193 4.7.3 实验内容 193 4.7.4 实验原理 193 4.7.5 实验设计 195 4.7.6 实验操作步骤 196 4.7.7 实验参考程序 197 4.7.8 实验练习题 199 第五章 人机接口实验 200 5.1 液晶显示实验 200 5.1.1 实验目的 200 5.1.2 实验设备 200 5.1.3 实验内容 200 5.1.4 实验原理 200 5.1.5 实验设计 211 5.1.6 实验操作步骤 213 5.1.7 实验参考程序 214 5.1.8 练习题 219 - ii - 3.1.1 实验目的 81 3.1.2 实验设备 81 3.1.3 实验内容 81 3.1.4 实验原理 81 3.1.5 实验操作步骤 83 3.1.6 实验参考程序 87 3.1.7 练习题 88 3.2 ARM汇编指令实验二 89 3.2.1 实验目的 89 3.2.2 实验设备 89 3.2.3 实验内容 89 3.2.4 实验原理 89 3.2.5 实验操作步骤 90 3.2.6 实验参考程序 91 3.2.7 练习题 94 3.3 Thumb 汇编指令实验 94 3.3.1 实验目的 94 3.3.2 实验设备 94 3.3.3 实验内容 94 3.3.4 实验原理 94 3.3.5 实验操作步骤 96 3.3.6 实验参考程序 96 3.3.7 练习题 99 3.4 ARM处理器工作模式实验 99 3.4.1 实验目的 99 3.4.2实验设备 99 3.4.3实验内容 99 3.4.4实验原理 99 3.4.5实验操作步骤 101 3.4.6实验参考程序 102 3.4.7练习题 104 3.5 C 语言程序实验一 104 3.5.1 实验目的 104 3.5.2 实验设备 104 3.5.3 实验内容 104 3.5.4 实验原理 104 3.5.5 实验操作步骤 106 3.5.6 实验参考程序 106 3.5.7 练习题 109 3.6 C 语言程序实验二 109 3.6.1 实验目的 109 3.6.2 实验设备 109 3.6.3 实验内容 109 3.6.4 实验原理 109 - iii - 3.6.5 实验操作步骤 111 3.6.6 实验参考程序 113 3.6.7 练习题 117 3.7 汇编与 C 语言的相互调用 117 3.7.1 实验目的 117 3.7.2 实验设备 117 3.7.3 实验内容 117 3.7.4 实验原理 117 3.7.5 实验操作步骤 118 3.7.6 实验参考程序 119 3.7.7 练习题 123 3.8 综合实验 123 3.8.1 实验目的 123 3.8.2 实验设备 123 3.8.3 实验内容 123 3.8.4 实验原理 123 3.8.5 实验操作步骤 124 3.8.6 参考程序 127 3.8.7 练习题 134 第四章 基本接口实验 135 4.1 存储器实验 135 4.1.1 实验目的 135 4.1.2 实验设备 135 4.1.3 实验内容 135 4.1.4 实验原理 135 4.1.5 实验操作步骤 149 4.1.6 实验参考程序 149 4.1.7 练习题 151 4.2 IO 口实验 151 4.2.1 实验目的 151 4.2.2 实验设备 152 4.2.3 实验内容 152 4.2.4 实验原理 152 4.2.5 实验操作步骤 159 4.2.6 实验参考程序 160 4.2.7 实验练习题 161 4.3 中断实验 161 4.3.1 实验目的 161 4.3.2 实验设备 161 4.3.3 实验内容 161 4.3.4 实验原理 162 4.3.5 实验操作步骤 165 4.3.6 实验参考程序 167 4.3.7 练习题 170 目 录 I 第一章 嵌入式系统开发与应用概述 1 1.1 嵌入式系统开发与应用 1 1.2 基于 ARM的嵌入式开发环境概述 3 1.2.1 交叉开发环境 3 1.2.2 模拟开发环境 4 1.2.3 评估电路板 5 1.2.4 嵌入式操作系统 5 1.3 各种 ARM开发工具简介 5 1.3.1 ARM的 SDT 6 1.3.2 ARM的ADS 7 1.3.3 Multi 2000 8 1.3.4 Embest IDE for ARM 11 1.3.5 OPENice32-A900仿真器 12 1.3.6 Multi-ICE 仿真器 12 1.4 如何学习基于 ARM嵌入式系统开发 13 1.5 本教程相关内容介绍 14 第二章 EMBEST ARM实验教学系统 17 2.1 教学系统介绍 17 2.1.1 Embest IDE 集成开发环境 17 2.1.2 Embest JTAG 仿真器 19 2.1.3 Flash 编程器 20 2.1.4 Embest EduKit-III开发板 21 2.1.5 各种连接线与电源适配器 23 2.2 教学系统安装 23 2.3 教学系统的硬件电路 27 2.3.1 概述 27 2.3.2 功能特点 27 2.3.3 原理说明 28 2.3.4 硬件结构 41 2.3.5 硬件资源分配 44 2.4 集成开发环境使用说明 51 2.4.1 Embest IDE 主框架窗口 51 2.4.2 工程管理 52 2.4.3 工程基本配置 55 2.4.4 工程的编译链接 71 2.4.5 加载调试 72 2.4.6 Flash编程工具 80 第三章 嵌入式软件开发基础实验 81 3.1 ARM汇编指令实验一 81
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目录 第1章 概述 1.1 采用C语言提高编制单片机应用程序的效率 1.2 C语言具有突出的优点 1.3 AvR单片机简介 1.4 AvR单片机的C编译器简介 第2章 学习AVR单片机C程序设计所用的软件及实验器材介绍 2.1 IAR Enlbedded Workbench IDE C语言编译器 2.2 AVR Studio集成开发环境 2.3 PonyProg2000下载软件及SL—ISP下载软件 2.4 AVR DEM0单片机综合实验板 2.5 AvR单片机JTAG仿真器 2.6 并口下载器 2.7 通用型多功能USB编程器 第3章 AvR单片机开发软件的安装及第一个入门程序 3.1 安装IAR for AVR 4.30集成开发环境 3.2 安装AVR Studio集成开发环境 3.3 安装PonyProg2000下载软件 3.4 安装SLISP下载软件 3.5 AvR单片机开发过程 3.6 第一个AVR入门程序 第4章 AVR单片机的主要特性及基本结构 4.1 ATMEGA16(L)单片机的产品特性 4.2 ATMEGA16(L)单片机的基本组成及引脚配置 4.3 AvR单片机的CPU内核 4.4 AvR的存储器 4.5 系统时钟及时钟选项 4.6 电源管理及睡眠模式 4.7 系统控制和复位 4.8 中断 第5章 C语言基础知识 5.1 C语言的标识符与关键字 5.2 数据类型 5.3 AVR单片机的数据存储空间 5.4 常量、变量及存储方式 5.5 数组 5.6 C语言的运算 5.7 流程控制 5.8 函数 5.9 指针 5.10 结构体 5.11 共用体 5.12 中断函数 第6章 ATMEGA16(L)的I/O端口使用 6.1 ATMEGAl6(L)的I/O端口 6.2 ATMEGAl6(L)中4组通用数字I/O端口的应用设置 6.3 ATMEGA16(L)的I/O端口使用注意事项 6.4 ATMEGAl6(L)PB口输出实验 6.5 8位数码管测试 6.6 独立式按键开关的使用 6.7 发光二极管的移动控制(跑马灯实验) 6.8 0～99数字的加减控制 6.9 4×4行列式按键开关的使用 第7章 ATMEGAl6(L)的中断系统使用 7.1 ATMEGA16(L)的中断系统 7.2 相关的中断控制寄存器 7.3 INT1外部中断实验 7.4 INTO／INTl中断计数实验 7.5 INTO／INTl中断嵌套实验 7.6 2路防盗报警器实验 7.7 低功耗睡眠模式下的按键中断 7.8 4×4行列式按键的睡眠模式中断唤醒设计 第8章 ATMEGAl6(L)驱动16×2点阵字符液晶模块 8.1 16×2点阵字符液晶显示器概述 8.2 液晶显示器的突出优点 8.3 16×2字符型液晶显示模块(LCM)特性 8.4 16×2字符型液晶显示模块(LCM)引脚及功能 8.5 16×2字符型液晶显示模块(LCM)的内部结构 8.6 液晶显示控制驱动集成电路HD44780特点 8.7 HD44780工作原理 8.8 LCD控制器指令 8.9 LCM工作时序 8.10 8位数据传送的ATMEGAl6(L)驱动16×2点阵字符液晶模块的子函数 8.11 8位数据传送的16×2 LCM演示程序1 8.12 8位数据传送的16×2 LCM演示程序2 8.13 4位数据传送的ATMEGA16(L)驱动16×2点阵字符液晶模块的子函数 8.14 4位数据传送的16×2 LCM演示程序 第9章 ATMEGA16(L)的定时/计数器 9.1 预分频器和多路选择器 9.2 8位定时/计时器T/C0 9.3 8位定时/计数器0的寄存器 9.4 16位定时/计数器T/C1 9.5 16位定时/计数器1的寄存器 9.6 8位定时/计数器T/C2 9.7 8位T/C2的寄存器 9.8 ICC6.31A C语言编译器安装 9.9 定时/计数器1的计时实验 9.10 定时/计数器0的中断实验 9.11 4位显示秒表实验 9.12 比较匹配中断及定时溢出中断的测试实验 9.13 PWM测试实验 9.14 0～5 V数字电压调整器 9.15 定时器(计数器)0的计数实验 9.16 定时/计数器1的输入捕获实验 ......
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