闩锁效应

闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。

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2014-05-05 69 闩锁效应

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2022-12-20 4 闩锁效应

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2013-04-24 43 闩锁效应

超声,红外,激光,无线,通讯相关专辑 183册 1.48G热释电效应及其应用 285页 3.9M.pdf

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