闩锁效应

闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。

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非常好的书，推荐学习模拟电路的人阅读。值得一读。。。

2015-07-04 2 闩锁效应

《光电传感器应用技术》图书章节：光电效应

2023-01-10 8 闩锁效应

2013-05-29 92 闩锁效应

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2014-05-05 103 闩锁效应

锁相技术相关专辑 38册 209M锁相环路的特性及其应用.pdf

2014-05-05 54 闩锁效应

锁相技术相关专辑 38册 209M软件锁相环的设计与应用.pdf

2014-05-05 30 闩锁效应

老外的PLL锁相环原理和应用介绍，很不错！

2024-01-02 10 闩锁效应