闩锁效应
闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。
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2024-01-24
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HID 灯整流效应的研究
多数高强度气体放电（HID）灯在寿命后期均表现出整流效应，这将导致镇流器及其相关部件过载，必须采取适当的保护措施确保在整流效应出现时照明系统安全。 本文建立了新型整流效应模拟实验电路， 并分析了HID
2024-04-08
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