利用过采样技术提高ADC测量分辨率
提出了用“过采样”技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善, 从而提高ADC 测量的分辨率。并利用Matlab 对其结论进行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予...
提出了用“过采样”技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善, 从而提高ADC 测量的分辨率。并利用Matlab 对其结论进行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予...
叙述了基于过采样技术,使用软件方法提高单片机片内A/ D 分辨率的基本原理及实现方法。给出了一个实现示例,将C8051F040 片内12 位分辨率ADC 提高到16 位分辨率。...
伟福仿真器系统概述 本仿真器系统由仿真主机+仿真头、MULT1A用户板、实验板、开关电源等组成。本系统的特点是: 1.主机+仿真头的组合,通过更换不同型号的仿真头即可对各种不同类型的单片机进行仿真,是...
在分析现有功率因数检测电路的基础上,提出了基于单片机电压采样的功率因数检测方法。叙述了电压采样测量功率因数的原理,设计出了以PIC16F877单片机核心的功率因数在线检测电路。并采用两种不同的负载进行...
摘要:本文详细叙述了基于FPGA及单片机K实现时码终端系统的设计方法,该系统可用于对国际通用时间格式码IRIG码(简称B码)的解调,以及产生各种采样、同步频率信号,也可作为其它系统的时基和采样、同步信...
Luminary的ADC过采样应用笔记 本文主要介绍一种Luminary单片机高精度低成本AD转换的实现方法,解决在某些要求高精度ADC领域的Luminary应用问题。...
C8051F单片机 C8051F系列单片机 单片机自20世纪70年代末诞生至今,经历了单片微型计算机SCM、微控制器MCU及片上系统SoC三大阶段,前两个阶段分别以MCS-51和80C51为代表。随...
论述了基于数字温度传感器的单片机温度测控系统。把PC机中实现减法运算的方法运用到MCU的汇编语言程序设计中,从而完成了AD7416的温度采样汇编语言程序设计。给出了温度测控系统简化电路原理图以及符合M...
用AT89C52单片机和串行时钟控制芯片DS1302组成的核心模块,实现了超长时间的定时控制。可广泛应用于用于不同用途的长达几年甚至几十年的定时开关,规律闭合开关,与固态继电器组合还可定时控制高压开关...
Luminary Micro在Stellaris系列微控制器的部分产品中提供了模数转换器(ADC)模块。ADC的硬件分辨率为10位,但由于噪音和其它使精度变小的因素的影响,实际的精度小于10位。本应用...