图解晶体管电路 192页 4.8M本书是“实用电子电路设计丛书”之一，共分上下二册。本书作为下册主要介绍晶体管/FET电路设计技术的基础知识和基本实验，内容包括FET放大电路、源极跟随器电路、功率放大器、电压/电流反馈放大电路、晶体管/FET开关电路、模拟开关电路、开关电源、振荡电路等。上册则主要介绍放大电路的工作、增强输出的电路、功率放大器的设计与制作、拓宽频率特性等。 本书面向实际需要，理论联系实际，通过大量具体的实验，抓住晶体管、FET的工作图像，以达到灵活运用这些器件设计应用电路的目的。
上传时间： 2013-05-16
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TEA5767HN 基本资料： 高灵敏、低噪声高频放大器， 收音频率：87.6MHz~108MHz，（支持频率范围在76MHz~87.5M
上传时间： 2013-04-24
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针对CDMA系统多径衰落信道条件下采用MATLAB仿真软件对单用户RAKE接收机和多用户RAKE接收机之间分别进行了仿真。并采用最大比合并、等增益合并、选择式合并这三种合并方式进行比较。给出仿真结果及误码率性能参数。通过比较三种合并方式的比较得出最大合并比方式更适合RAKE接收机。通过单用户与多用户RAKE接收机的比较，得出RAKE接收机更适合于多用户情况。并通过多用户间的比较得出增多用户对同状态下信噪比要求增加不大。
上传时间： 2013-04-24
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正弦波振荡器在各种电子设备中有着广泛的应用。它是一种能自动地将直流电源能量转换为一定波形的交变振荡信号能量的转换电路。它与放大器的区别在于，无需外加激励信号，就能产生具有一定频率、一定波形和一定振幅的交流信号。
上传时间： 2013-04-24
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电子工业出版社，应用电工学，林庆云主编，中专教材。本书内容有：电工学（直流电路、磁与电磁、正弦交流电路、三相交流电路、变压器与电动机、低压电器和基本控制电路、供电和用电基本知识），电子学（半导体元件、交流放大器、直流放大器与运算放大器、正弦波振荡电路、数字电路的基础知识、时序逻辑电路与组合逻辑电路、整流电路）。
标签： 应用电
上传时间： 2013-04-24
上传用户：chengli008
运放使用经验谈 为您的电路选择合适的运算放大器 (op amp) 时，首先要做的便是确定系统通过该放大器进行传输的信号带宽。一旦您确定下来这一点，您便可以开始寻找正确的放大器。
上传时间： 2013-05-16
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Behzad Razavi 所著的《射频微电子学》（RF Microelectronics）的翻译稿，清华大学微电子学研究所参与翻译。主要内容有：射频电子学常见的概念和术语，以及评价射频电路性能的主要指标；模拟和数字信号的调制、解调；常见的无线通信标准；无线前端收发器的结构和集成电路的实现；低噪声放大器和混频器、振荡器、频率综合 器和功率放大器的电路原理和分析方法，等等。
标签： BehzadRazavi 射频 微电子学
上传时间： 2013-06-23
上传用户：huql11633
电子工业出版社，Microwave Engineering(Third Edition)中文版，(美)David M.Pozar著。微波工程经典教材，内容有：电磁理论、传输线理论、传输线和波导、微波网络分析、阻抗匹配和调谐、微波谐振器、功率分配器和定向耦合器、微波滤波器、铁氧体元件的理论与设计、噪声与有源射频元件、微波放大器设计、振荡器和混频器、微波系统导论。第1-308页。
上传时间： 2013-07-18
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电子工业出版社，Microwave Engineering(Third Edition)中文版，(美)David M.Pozar著。微波工程经典教材，内容有：电磁理论、传输线理论、传输线和波导、微波网络分析、阻抗匹配和调谐、微波谐振器、功率分配器和定向耦合器、微波滤波器、铁氧体元件的理论与设计、噪声与有源射频元件、微波放大器设计、振荡器和混频器、微波系统导论。第309-617页(完)。
上传时间： 2013-05-28
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高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。
上传时间： 2013-06-07
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