伪随机序列 (Pseudo-Random Sequence，PRS)广泛应用于密码学、扩频通信、雷达、导航等领域，其设计和分析一直是国际上的研究热点。混沌序列作为一种性能优良的伪随机序列，近年来受到越来越多的关注。寻找一种性能更为良好的混沌伪随机序列(ChaosPseudo Random Sequence，CPRS)并且完成其硬件实现，在理论研究与工程应用上都是十分有价值的。基于切延迟椭圆反射腔映射混沌系统(Tangent-Delay Ellipse Reflecting Cavity map System，TD-ERCS)已被理论分析和测试证明具有良好的密码学性质。本文介绍了一种基于TD-ERCS构造伪随机序列发生器 (Pseudo Random SequenceGenerator，PRSG)的新方法；并基于这种方法，提出了以现场可编程门阵列 (Field Programmable Gate Array，FPGA)为平台的硬件设计实现方案，采用硬件描述语言 (VHSIC Hardware DescriptionLanguage，VHDL )完成了整个系统的设计，通过了仿真与适配，完成了硬件调试；详细地论述了系统总体框架及内部模块设计，重点介绍了TD-ERCS算法实现单元的设计，并在系统中设计加入了异步串行接口，完善了整个系统的模块化，可使系统嵌入到现有的各类密码系统与设备中；基于FDELPHI编程环境，完成了计算机应用软件的设计，为使用基于TD-ERCS开发的PRSG硬件产品提供了人机交互界面，也为分析与测试硬件系统产生的CPRS提供了方便；同时依据美国国家标准与技术研究院 (National Institute of Standards andTechnology，NIST)提出的伪随机序列性能指标，对软件与硬件系统产生的CPRS进行了标准测试，软件方法所得序列各项性能指标完全合格，硬件FPGA所得序列仅三项测试未能通过，其原因有待进一步研究。
上传时间： 2013-06-20
上传用户：heart520beat
介绍了一种由MAX038和MC145151构成的精密函数波形发生器，该发生器可输出正弦波、矩形波、三角波信号，输出频率能在8kHz～16MHz范围内调整，调整增幅为1kHz，可作为通用的高频精密函数波形发生器。
上传时间： 2013-06-19
上传用户：zhang469965156
针对当前市场上流行的高性能三相信号发生器价格昂贵，性价比低的问题。本课题开发了一种输出精度较高，价格低廉的三相六路信号发生器。其中三路输出为电压信号，另外三路输出为电流信号，从而模拟三相交流电，应用于仪器的校...
上传时间： 2013-05-19
上传用户：时代电子小智
介绍一种脉冲涡流无损检测系统所使用的多波形专用PWM 信号发生器的设计。该信号发生器以单片机为核心控制单元，通过对外围芯片的控制来实现对输出波形的频率、电压幅值、占空比的连续调节，并能对运行信
上传时间： 2013-04-24
上传用户：luominghua
波形发生器设计论文:本系统主要以单片机为控制核心，由可编程逻辑器件（CPLD）模块、键盘输入模块、LED显示模块、双口RAMIDT7132、DA转换输出、rom、巴特沃斯有源低通滤波器等部件组成。采用
上传时间： 2013-07-07
上传用户：ma1301115706
FPGA实现的任意波形发生器的设计FPGA实现的任意波形发生器的设计FPGA实现的任意波形发生器的设计
上传时间： 2013-07-16
上传用户：木子叶1
模拟电子技术，是由清华大学教授华成英和童诗白主编，是国内最权威的模电教材。
标签： 模拟电子技术
上传时间： 2013-04-24
上传用户：l254587896
简易波形发生器一、实验目的１． 掌握DAC0832和ADC0809的应用和编程方法。２． 熟悉几种典型波形的产生方法。二、实验内容与要求
标签： 波形发生器
上传时间： 2013-07-12
上传用户：wyc199288
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。
上传时间： 2013-06-07
上传用户：gps6888
DDFS信号发生器模块适用与AD9850，具有产生良好的正弦波功能
上传时间： 2013-06-07
上传用户：eddy77
