我公司生产的 USBkey 产品所使用的MCU 电路，自2007 年9 月初USBkey 产品开始量产化后，我们对其部分产品做了电老化试验，发现该款电路早期失效问题达不到我们要求，上电以后一段时间内失效率为千分之一点五左右。为此，我们从去年10 月到今年2 月对所生产的产品（已发出的除外）全部进行了电老化筛选，通过这项工作发现了一些规律性的东西，对提高电子产品的安全可靠性有一定指导意义。2 试验条件的设定造成电路早期失效的原因很多，从 IC 设计到半导体生产工艺、电路封装、焊接装配等生产工序和生产设备、生产材料、生产环境及人为的因素都有可能是成因，作为电路的使用方不可能都顾及到，也不可控。通过分析，我们认为还是着眼于该款电路在完成半导体生产工艺后，在后部加工中所产生的早期失效问题更有针对性。，因此决定从电路的后部加工工序即封装、COS 软件以及产品SMT 加工工艺等方面入手，安排几种比对试验并取得试验数据，以期找出失效原因。
上传时间： 2014-12-28
上传用户：894898248
摘要:IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题,严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引线键合断裂、静电放电损伤等失效模式和失效机理,并结合IC卡制造工艺和失效IC卡的分析实例,对引起这些失效的根本原因作了深入探讨,就提升制造成品率、改善可靠性提出应对措施.关键词:IC卡;薄/超薄芯片;碎裂;键合
上传时间： 2013-11-09
上传用户：wangjg
为了保证在高温条件下，正确使用高频硅PNP晶体管3CG120，文中对3CG120在不同温度段的失效机理进行了研究。通过对硅PNP型晶体管3CG120进行170~340 ℃温度范围内序进应力加速寿命试验，发现在170~240 ℃，240~290 ℃，以及290~340 ℃分别具有不同的失效机理，并通过分析得到了保证加速寿命试验中与室温相同的失效机理温度应力范围。
上传时间： 2013-10-15
上传用户：bensonlly
驱动电路的性能很大程度上影响整个系统的工作性能。驱动电路的设计中主要考虑功能和性能等方面的因素。本文首先介绍了某平台的电机驱动电路，然后就实际工作及实验中驱动电路出现的失效信息作以分析，对问题进行总结: 导致样品失效原因是由于电机产生的反电动势使功率模块内部的三极管芯片产生表面击穿，致使电源与地短路，产生大电流导致功率模块与继电器以及三极管烧毁。最后并提出了解决方案。
上传时间： 2015-01-02
上传用户：1427796291
介绍： 读写INI文件的四个函数 如何取得计算机名 计算Windows从启动后所运行的总时间 使窗体右上角的X按钮失效删除系统菜单 动态改变及恢复屏幕设置下 制作垂直标题栏的窗体下 用API函数控制光驱的开关 等。
上传时间： 2015-04-09
上传用户：qwe1234
芯片实效分析技术 1、失效分析方法和技术 2、失效机理和相应的分析技术 3、分析案例
上传时间： 2013-12-21
上传用户：kytqcool
高校用户潜在网络信息需求的显化,我国高校校园网已初具规模, 但尚未得到充分利用。
上传时间： 2013-12-29
上传用户：亚亚娟娟123
j2ee最佳实践和潜在难点，主要是蒋介J2EE相关技术和技术难点。指导读者了解J2EE技术概貌ppt。
上传时间： 2014-05-30
上传用户：ANRAN
lsa（潜在语义分析的论文）一个关于概率模型的论文
上传时间： 2015-08-14
上传用户：独孤求源
读写INI文件的四个函数 如何取得计算机名 计算Windows从启动后所运行的总时间 使窗体右上角的X按钮失效删除系统菜单 动态改变及恢复屏幕设置下 制作垂直标题栏的窗体下 用API函数控制光驱的开关 如何映射/中断网络磁盘 制作垂直标题栏的窗体上 实现隐藏和显示桌面图标 VB托盘程序详解下 妙用GetSystemMetrics函数 利用API和注册表获取系统信息上 VB快速调用系统对话框下 利用API和注册表获取系统信息中 利用API和注册表获取系统信息下 百叶窗图形特效 实现平面工具栏下 数据库查询结果的动态排序三 动态改变及恢复屏幕设置上 关于VisualBasic类开发一 界面设计原则和编程技巧下 Enc-Base64位加密程序源代码上 Enc-Base64位加密程序源代码下 编写ActiveXDLL实现ASP编程下 VB快速调用系统对话框上 VB快速调用系统对话框中 用内存共享实现EXE通信 ListBoxComboBox中寻找字串 使用DDE技术为应用程序增辉上 使用DDE技术为应用程序增辉下 VB动态图形按钮的实现
上传时间： 2014-01-08
上传用户：gxrui1991
