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温度<b>测试系统</b>

  • 基于JTAG和FPGA的嵌入式SOC验证系统研究与设计.rar

    随着半导体制造技术不断的进步,SOC(System On a Chip)是未来IC产业技术研究关注的重点。由于SOC设计的日趋复杂化,芯片的面积增大,芯片功能复杂程度增大,其设计验证工作也愈加繁琐。复杂ASIC设计功能验证已经成为整个设计中最大的瓶颈。 使用FPGA系统对ASIC设计进行功能验证,就是利用FPGA器件实现用户待验证的IC设计。利用测试向量或通过真实目标系统产生激励,验证和测试芯片的逻辑功能。通过使用FPGA系统,可在ASIC设计的早期,验证芯片设计功能,支持硬件、软件及整个系统的并行开发,并能检查硬件和软件兼容性,同时还可在目标系统中同时测试系统中运行的实际软件。FPGA仿真的突出优点是速度快,能够实时仿真用户设计所需的对各种输入激励。由于一些SOC验证需要处理大量实时数据,而FPGA作为硬件系统,突出优点是速度快,实时性好。可以将SOC软件调试系统的开发和ASIC的开发同时进行。 此设计以ALTERA公司的FPGA为主体来构建验证系统硬件平台,在FPGA中通过加入嵌入式软核处理器NIOS II和定制的JTAG(Joint Test ActionGroup)逻辑来构建与PC的调试验证数据链路,并采用定制的JTAG逻辑产生测试向量,通过JTAG控制SOC目标系统,达到对SOC内部和其他IP(IntellectualProperty)的在线测试与验证。同时,该验证平台还可以支持SOC目标系统后续软件的开发和调试。 本文介绍了芯片验证系统,包括系统的性能、组成、功能以及系统的工作原理;搭建了基于JTAG和FPGA的嵌入式SOC验证系统的硬件平台,提出了验证系统的总体设计方案,重点对验证系统的数据链路的实现进行了阐述;详细研究了嵌入式软核处理器NIOS II系统,并将定制的JTAG逻辑与处理器NIOS II相结合,构建出调试与验证数据链路;根据芯片验证的要求,设计出软核处理器NIOS II系统与PC建立数据链路的软件系统,并完成芯片在线测试与验证。 本课题的整体任务主要是利用FPGA和定制的JTAG扫描链技术,完成对国产某型DSP芯片的验证与测试,研究如何构建一种通用的SOC芯片验证平台,解决SOC验证系统的可重用性和验证数据发送、传输、采集的实时性、准确性、可测性问题。本文在SOC验证系统在芯片验证与测试应用研究领域,有较高的理论和实践研究价值。

    标签: JTAG FPGA SOC

    上传时间: 2013-05-25

    上传用户:ccsp11

  • 基于FPGA的温度采集控制器的分析和设计.rar

    温度是生活中最基本的环境参数。温度的监测与控制,对于生物生存生长,工业生产发展都有着非同一般的意义。温度传感器的应用涉及机械制造、工业过程控制、汽车电子产品、消费电子产品和专用设备等各个领域。传统的常用温度传感器有热电偶、电阻温度计RTD和NTC热敏电阻等。但信号调理,模数转换及恒温器等功能全都会增加成本。现代集成温度传感器通常包含这些功能,并以其低廉的价格迅速地占据了市场。Dallas Semiconductor公司推出的数字式温度传感器DS1820采用数字化一线总线技术具有许多优异特性。其一,它将控制线、地址线、数据线合为一根导线,允许在同一根导线上挂接多个控制对象,形成多点一线总线测控系统。布线施工方便,成本低廉。其二,线路上传送的是数字信号,所受干扰和损耗小,性能好。本课题旨在分析和设计基于数字化一线总线技术的温度测控系统。本系统采用FPGA实现一个温度采集控制器,用于传感器和上位机的连接,并采用Microsoft公司的Visual C++作为开发平台,运用MSComm控件进行串口通信,进行命令的发送和接收。

    标签: FPGA 温度采集 控制器

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:fyerd

  • 33个毕业设计单片机类.rar

    16×16点阵(滚动显示)论文+程序.rar cdma通信系统中的接入信道部分进行仿真与分析.rar LED显示屏动态显示和远程监控的实现.rar MCS-51单片机温度控制系统.rar USB接口设计.rar 毕业设计(论文)OFDM通信系统基带数据.rar 仓库温湿度的监测系统.rar 单片机串行通信发射机.rar 单片机课程设计__电子密码锁报告.rar 单片机控制交通灯.rar 电动智能小车(完整论文).rar 电气工程系06届毕业设计开题报告.rar 电信运营商收入保障系统设计与实现.rar 电子设计大赛点阵电子显示屏(A题)..rar 电子时钟.rar 火灾自动报警系统设计.rar 基于GSM短信模块的家庭防盗报警系统.rar 基于GSM模块的车载防盗系统设计 TC35i 资料.rar 基于网络的虚拟仪器测试系统.rar 门控自动照明电路.rar 全遥控数字音量控制的D类功率放大器.rar 数控直流稳压电源完整论文.rar 数字密码锁设计.rar 数字抢答器(数字电路).rar 数字时钟.rar 水箱单片机控制系统.rar 同步电机模型的MATLAB仿真.rar 温度监控系统的设计.rar 用单片机控制直流电机.rar 用单片机实现温度远程显示.rar 智能家用电热水器控制器.rar 智能型充电器电源和显示的设计.rar 自动加料机控制系统.rar 每个设计包含论文、原代码,个别的有PCB

    标签: 毕业设计 单片机

    上传时间: 2013-07-05

    上传用户:riiqg1989

  • 可重构FPGA通讯纠错进化电路及其实现

    ASIC对产品成本和灵活性有一定的要求.基于MCU方式的ASIC具有较高的灵活性和较低的成本,然而抗干扰性和可靠性相对较低,运算速度也受到限制.常规ASIC的硬件具有速度优势和较高的可靠性及抗干扰能力,然而不是灵活性较差,就是成本较高.与传统硬件(CHW)相比,具有一定可配置特性的场可编程门阵列(FPGA)的出现,使建立在可再配置硬件基础上的进化硬件(EHW)成为智能硬件电路设计的一种新方法.作为进化算法和可编程器件技术相结合的产物,可重构FPGA的研究属于EHW的研究范畴,是研究EHW的一种具体的实现方法.论文认为面向分类的专用类可重构FPGA(ASR-FPGA)的研究,可使可重构电路粒度划分的针对性更强、设计更易实现.论文研究的可重构FPGA的BCH通讯纠错码进化电路是一类ASR-FPGA电路的具体方法,具有一定的实用价值.论文所做的工作主要包括:(1)BCH编译码电路的设计——求取实验用BCH码的生成多项式和校验多项式及其相应的矩阵并构造实验用BCH码;(2)建立基于可重构FPGA的基核——构造具有可重构特性的硬件功能单元,以此作为可重构BCH码电路的设计基础;(3)构造实现可重构BCH纠错码电路的方法——建立可重构纠错码硬件电路算法并进行实验验证;(4)在可重构纠错码电路基础上,构造进化硬件控制功能块的结构,完成各进化RLA控制模块的验证和实现.课题是将可重构BCH码的编译码电路的实现作为一类ASR-FPGA的研究目标,主要成果是根据可编程逻辑电路的特点,选择一种可编程树的电路模型,并将它作为可重构FPGA电路的基核T;通过对循环BCH纠错码的构造原理和电路结构的研究,将基核模型扩展为能满足纠错码电路需要的纠错码基本功能单元T;以T作为再划分的基本单元,对FPGA进行"格式化",使T规则排列在FPGA上,通过对T的控制端的不同配置来实现纠错码的各个功能单元;在可重构基核的基础上提出了纠错码重构电路的嵌套式GA理论模型,将嵌套式GA的染色体串作为进化硬件描述语言,通过转换为相应的VHDL语言描述以实现硬件电路;采用RLA模型的有限状态机FSM方式实现了可重构纠错码电路的EHW的各个控制功能块.在实验方面,利用Xilinx FPGA开发系统中的VHDL语言和电路图相结合的设计方法建立了循环纠错码基核单元的可重构模型,进行循环纠错BCH码的电路和功能仿真,在Xilinx公司的Virtex600E芯片进行了FPGA实现.课题在研究模型上选取的是比较基本的BCH纠错码电路,立足于解决基于可重构FPGA核的设计的基本问题.课题的研究成果及其总结的一套ASR-FPGA进化硬件电路的设计方法对实际的进化硬件设计具有一定的实际指导意义,提出的基于专用类基核FPGA电路结构的研究方法为新型进化硬件的器件结构的设计也可提供一种借鉴.

    标签: FPGA 可重构 通讯 纠错

    上传时间: 2013-07-01

    上传用户:myworkpost

  • 基于FPGA的温度采集控制器

    温度是生活中最基本的环境参数。温度的监测与控制,对于生物生存生长,工业生产发展都有着非同一般的意义。温度传感器的应用涉及机械制造、工业过程控制、汽车电子产品、消费电子产品和专用设备等各个领域。传统的常用温度传感器有热电偶、电阻温度计RTD和NTC热敏电阻等。但信号调理,模数转换及恒温器等功能全都会增加成本。现代集成温度传感器通常包含这些功能,并以其低廉的价格迅速地占据了市场。Dallas Semiconductor公司推出的数字式温度传感器DS1820采用数字化一线总线技术具有许多优异特性。其一,它将控制线、地址线、数据线合为一根导线,允许在同一根导线上挂接多个控制对象,形成多点一线总线测控系统。布线施工方便,成本低廉。其二,线路上传送的是数字信号,所受干扰和损耗小,性能好。本课题旨在分析和设计基于数字化一线总线技术的温度测控系统。本系统采用FPGA实现一个温度采集控制器,用于传感器和上位机的连接,并采用Microsoft公司的Visual C++作为开发平台,运用MSComm控件进行串口通信,进行命令的发送和接收。

    标签: FPGA 温度采集 控制器

    上传时间: 2013-07-29

    上传用户:BOBOniu

  • 基于FPGA的USB接口数据采集系统研究

    随着科学技术水平的不断提高,在科研和生产过程中为了更加真实的反映被测对象的性质,对测试系统的性能要求越来越高。传统的测试装置,由于传输速度低或安装不便等问题已不能满足科研和生产的实际需要。USB技术的出现很好的解决了上述问题。USB总线具有支持即插即用、易于扩展、传输速率高(USB2.0协议下为480Mbps)等优点,已逐渐得到广泛的应用。 本课题研究并设计了一套基于USB2.0的数据采集系统。论文首先详细介绍了USB总线协议,然后从系统的总体结构、硬件电路、软件程序以及系统性能检测等几个方面,详细阐述了系统的设计思想和实现方案。系统采用双12位A/D转换器,提供两条模拟信号通道,可以同时采集双路信号,最高的采样率为200KHz。USB接口芯片采用Cypress公司的CY7C68013。论文详细介绍了其在SlaveFIFO接口模式下的电路设计和程序设计。系统应用FPGA芯片作系统的核心控制,控制系统的数据采集和与USB接口芯片的数据交换,并产生其中的逻辑控制信号和时序信号。同时应用FPGA芯片作系统的核心控制可提高了系统稳定性、减小设备的体积。系统的软件设计,主要包括FPGA芯片中的逻辑、时序控制程序、8051固件程序、客户应用程序及其驱动程序。客户端选择了微软的Visual Studio6.0 C++作开发平台,虽然增加了复杂程度,但是软件执行效率及重用性均得到提高。 最后,应用基于USB2.0的数据采集系统测试标准信号及电木的导热系数,以验证测试系统的可靠信与准确性。

    标签: FPGA USB 接口 数据采集

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:凤临西北

  • 基于FPGA的ADC并行测试方法研究

    高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法,并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。    本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统,完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号,共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道,并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块,并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下,对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估,被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明,通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块,可并行地实现对2个相同ADC的参数评估,减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制,就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估,配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现,具有可行性,但由于噪声的影响,测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。

    标签: FPGA ADC 并行测试 方法研究

    上传时间: 2013-06-07

    上传用户:gps6888

  • 石英晶体振荡器性能参数测试系统研究

    文章介绍了石英晶体振荡器的特点及性能参数,由于人工测量繁琐,且容易出错等不足,提出了一种智能测量方法。该方法利用计算机控制技术,实现自动测试石英晶体振荡器的性能参数,并打印测试结果,减少了强度,提高了检测效率。

    标签: 石英晶体振荡器 性能 参数测试 系统研究

    上传时间: 2013-11-22

    上传用户:yy541071797

  • 蓄电池循环寿命测试系统设计分析

    随着科技的发展及工业现代化,环境污染是当前国际性问题。蓄电池是人类研制出的性能优异的储能设备,还有IT产品的大量应用。市场上对蓄电的需求量越来越大。而每个厂家的产品质量不同,需要对电池的循环寿命进行检测。本课题设计了基于TMS320F2812 的DSP芯片为控制中心,由高性能的A/D转换器TLC2543和D/A转换器MAX538等构成的蓄电池循环寿命检测系统。同时易于计算机相连,形成一个自动的检测网络。而且按相关的标准进行放电,研究发现取得了很好的效果。

    标签: 电池循环寿命 测试系统 设计分析

    上传时间: 2014-12-24

    上传用户:tianming222

  • 谊邦电子-半导体测试专家-IGBT测试-功率器件测试-分立器件全参数测试

    西安谊邦电子 公司引进美国的先进半导体测试技术,在此基础上研制生产了YB6000系列半导体分立器件测试系统,该测试系统拥有功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点,各项技术指标均达到国际领先水平。其雄厚的技术实力,多年的开发产品经验和独特严谨的设计方案使谊邦电子YB系列测试系统性能更加超群,品质更为可靠稳定。谊邦电子研发技术涉及高端集成电路测试、半导体分立器件测试和各种客户产品测试等领域。产品主要应用于军工、汽车、飞机、船舶制造、能源等行业领域。 西安谊邦凭借较强的技术实力和完善的科学管理,能够给用户提供完善的售前售后技术支持。科技创新、服务无限,是我们工作的宗旨。

    标签: IGBT 测试 电子 半导体测试

    上传时间: 2013-10-30

    上传用户:yangqian