📚 半导体测试技术资料

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半导体测试是电子工程领域中至关重要的环节,涵盖从晶圆级到成品级的全面检测技术。本页面汇集了13282个精选资源,包括最新测试方法、设备选型指南及实战案例分析等,旨在帮助工程师掌握ATE(自动测试设备)使用技巧、提升故障诊断能力。无论您专注于集成电路设计还是质量控制,这里都有助于深化对半导体器件特性的理解,并促进技术创新。立即加入我们,开启您的专业成长之旅!

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西安谊邦电子 公司引进美国的先进半导体测试技术,在此基础上研制生产了YB6000系列半导体分立器件测试系统,该测试系统拥有功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点,各项技术指标均达到国际领先水平。其雄厚的技术实力,多年的开发产品经验和独特严谨的设计方案使谊邦电子YB系列测试系统性能更加超群,品质...

📅 👤 yangqian

在半导体测试应用中获得最大吞吐量并最大程度提高低电流性能吉时利最新的半导体开关主机—— 707B六槽矩阵开关主机 和 708B单槽矩阵开关主机。这些新的主机专门为实验室和生产环境的半导体测试应用优化,具有极高的指令到连接速度。此应用笔记涉及直流和交流特性分析的开关系统配置,开关系统定时考虑,源和测量...

📅 👤 hjkhjk

随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高,以及对于系统灵敏度等要求的不断提高,对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中,一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号,另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此,保证ADC/DA...

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