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模态分析

  • 史上最全的运放典型应用电路及分析

    二十种电路分析。

    标签: 运放 典型 应用电路

    上传时间: 2013-10-13

    上传用户:Yukiseop

  • 模数转换器概述

    数模转换

    标签: 模数转换器

    上传时间: 2014-12-23

    上传用户:tsfh

  • 555芯片用于组成单稳态触发器、施密特触发器以及多谐振荡器

    555芯片用于组成单稳态触发器、施密特触发器以及多谐振荡器。

    标签: 555 芯片 单稳态触发器 施密特触发器

    上传时间: 2013-10-19

    上传用户:fredguo

  • 模电课程设计负反馈放大电路

    模电课程设计

    标签: 模电 放大电路 负反馈

    上传时间: 2013-11-03

    上传用户:sdq_123

  • ADC0809模数转换器的测试与研究

    ADC0809模数转换器的测试与研究

    标签: 0809 ADC 模数转换器 测试

    上传时间: 2014-12-23

    上传用户:defghi010

  • CoolMOS导通电阻分析及与VDMOS的比较

    为了克服传统功率MOS 导通电阻与击穿电压之间的矛盾,提出了一种新的理想器件结构,称为超级结器件或Cool2MOS ,CoolMOS 由一系列的P 型和N 型半导体薄层交替排列组成。在截止态时,由于p 型和n 型层中的耗尽区电场产生相互补偿效应,使p 型和n 型层的掺杂浓度可以做的很高而不会引起器件击穿电压的下降。导通时,这种高浓度的掺杂使器件的导通电阻明显降低。由于CoolMOS 的这种独特器件结构,使它的电性能优于传统功率MOS。本文对CoolMOS 导通电阻与击穿电压关系的理论计算表明,对CoolMOS 横向器件: Ron ·A = C ·V 2B ,对纵向器件: Ron ·A = C ·V B ,与纵向DMOS 导通电阻与击穿电压之间Ron ·A = C ·V 2. 5B 的关系相比,CoolMOS 的导通电阻降低了约两个数量级。

    标签: CoolMOS VDMOS 导通电阻

    上传时间: 2013-10-21

    上传用户:1427796291

  • 常见的数模和模数转换器介绍

    常见的数模和模数转换器介绍

    标签: 数模 模数转换器

    上传时间: 2013-10-17

    上传用户:kang1923

  • 声卡虚拟示波器

    功能简介 虚仪声卡万用仪是一个功能强大的基于个人电脑的虚拟仪器。它由声卡实时双踪示波器、声卡实时双踪频谱分析仪和声卡双踪信号发生器组成,这三种仪器可同时使用。本仪器内含一个独特设计的专门适用于声卡信号采集的算法,它能连续监视输入信号,只有当输入信号满足触发条件时,才采集一幀数据,即先触发后采集,因而不会错过任何触发事件。这与同类仪器中常用的先采集一长段数据,然后再在其中寻找触发点的方式,即先采集后触发,截然不同。因此本仪器能达到每秒50幀的快速屏幕刷新率,从而实现了真正的实时信号采集、分析和显示。本仪器还支持各种复杂的触发方式包括超前触发和延迟触发。 虚仪声卡万用仪发挥了以电脑屏幕作为显示的虚拟仪器的优点,支持图形显示的放大和滚动,并将屏幕的绝大部分面积用于数据显示,使您能够深入研究被测信号的任何细节。而市面上有些同类仪器则在人机界面上过分追求“形”似,将传统仪器的面板简单地模拟到电脑屏幕上,占用了大量宝贵的屏幕资源,仅留下较小面积供数据显示用。 虚仪声卡万用仪提供了一套完整的信号测试与分析功能,包括:双踪波形、波形相加、波形相减、李莎如图、电压表、瞬态信号捕捉、RMS绝对幅度谱、相对幅度谱、八度分析(1/1、1/3、1/6、1/12、1/24)、THD、THD+N、SNR、SINAD、频率响应、阻抗测试、相位谱、自相关函数、互相关函数、函数发生器、任意波形发生器、白噪声发生器、粉红噪声发生器、多音合成发生器和扫频信号发生器等。 虚仪声卡万用仪将采集到的数据和分析后的数据保存为标准的WAV波形文件或TXT文本文件。它也支持WAV波形文件的输入和BMP图像文件的输出和打印。支持24比特采样分辨率。支持WAV波形文件的合并和数据抽取。

    标签: 声卡 虚拟示波器

    上传时间: 2013-10-25

    上传用户:silenthink

  • 时钟抖动时域分析(下)

    时钟抖动时域分析(下):

    标签: 时钟抖动 时域分析

    上传时间: 2013-11-18

    上传用户:rocketrevenge

  • ESD电热模拟分析

    静电放电(ESD)是造成大多数电子元器件或电路系统破坏的主要因素。因此,电子产品中必须加上ESD保护,提供ESD电流泄放路径。电路模拟可应用于设计和优化新型ESD保护电路,使ESD保护器件的设计不再停留于旧的设计模式。文中讨论了器件由ESD引起的热效应的失效机理及研究热效应所使用的模型。介绍用于ESD模拟的软件,并对一些相关模拟结果进行了分析比较。

    标签: ESD 电热 模拟分析

    上传时间: 2013-11-05

    上传用户:二十八号