IEC 61000-4-2 2001版本,ESD静电测试标准
本文档为ESD测试相关的国际标准,IEC 61000-4-2 2001版本,包括空气放电和接触放电,内容涵盖测试方法,实验台的设置,以及相关模型参数的配置,如150 pF/330 Ω 和 330 pF/330 Ω 两种放电模块。...
本文档为ESD测试相关的国际标准,IEC 61000-4-2 2001版本,包括空气放电和接触放电,内容涵盖测试方法,实验台的设置,以及相关模型参数的配置,如150 pF/330 Ω 和 330 pF/330 Ω 两种放电模块。...
从典型的表面贴装工厂的实践来看,半导体失效原因主要分为与材料有关的失效、与工艺有关的失效,以及电学失效。通常与材料和工艺有关的失效发生的较为频繁,而且失效率很高,但是占有90%以上的失效并不是真正的失效,有经验的工艺工程师和失效分析工程师可以通过 射线焊点检测仪、扫描电子显微镜、能量分散谱、于同批产...
VIP专区-嵌入式/单片机编程源码精选合集系列(97)资源包含以下内容:1. 介绍了Imu器件的模型参数及实验验证研究.2. 介绍IMU器件的试验测试和参数分析.3. DM9000的中文参考资料.4. 一个在通用i2c程序基础上加入自己的修改.5. 本程序是模拟的大习幕点阵的三种刷新效果。程序简单....
PSPICE的正式版SPICE 2G在1975年正式推出,但是该程序的运行环境至少为小型机。1985年,加州大学伯克利分校用c语言对SPICE软件进行了改写, 并由MICROSIM公司推出。1988年SPICE被定为美国国家工业标准。与此同时,各种以SPICE为核心的商用模拟电路仿真软件,在SPIC...
PSPICE的正式版SPICE 2G在1975年正式推出,但是该程序的运行环境至少为小型机。1985年,加州大学伯克利分校用c语言对SPICE软件进行了改写, 并由MICROSIM公司推出。1988年SPICE被定为美国国家工业标准。与此同时,各种以SPICE为核心的商用模拟电路仿真软件,在SPIC...