延时测试
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8.延时试验
这份详尽的8.延时试验文档，是基于YL-39开发板和mega16单片机编写的实践教程。它不仅深入解析了延时函数的工作原理及其在嵌入式系统中的应用方法，还提供了丰富的代码示例来帮助读者理解和掌握相关技术要点。无论是初学者还是有一定经验的开发者...
2025-12-06
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FPGA时延故障测试技术研究.rar
现场可编程门阵列FPGA是一种现场可编程专用集成电路，它将通用门阵列结构与现场可编程的特性结合于一体，如今，FPGA系列器件己成为最受欢迎的器件之一。随着FPGA器件的应用越来越广泛，FPGA的测试技术得到了广泛重视和研究。基于FPGA可编...
2023-10-01
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基于BIST的带时延故障的FPGA测试
随着超大规模集成电路的迅速发展，90纳米技术已经应用，上千万门的集成电路已经产生。一方面，芯片封装越来越小，引脚越来越密，印制电路饭的密度日益增大，芯片的互连测试成为一个亟待解决的问题。另一方面，芯片或功能模块内部有很多节点无法探测，对这些...
2023-10-31
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