📚 失效机理技术资料

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失效机理是电子工程中至关重要的研究领域,深入探讨了电子元器件及系统在特定条件下性能下降直至失效的过程与原因。涵盖从半导体材料老化、焊接点裂纹到电路板腐蚀等多种现象,广泛应用于可靠性设计、故障诊断及预防维护等领域。掌握失效机理不仅能够帮助工程师提高产品寿命和稳定性,还能有效降低研发成本。本站汇集365份精选资料,包括案例分析、实验报告及理论研究,助力您成为该领域的专家。

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抗多径衰落是正交频分复用(OFDM)系统的显著特点之一。具体分析了 OFDM 抗多径的机理,说明了两种不同情况下多径对信号频谱的影响,并提出了相应的减轻多径影响的方法。通过仿真分析验证了HiperLAN Type2 标准规定的 OFDM 系统的抗多径性能,并提出了一些改善系统...

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