📚 可测性设计技术资料

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可测性设计（DFT）是现代电子系统开发中不可或缺的一环，旨在提高电路测试效率与故障覆盖率。通过集成特定的测试结构和逻辑，DFT技术能够显著降低测试成本并加速产品上市时间。广泛应用于集成电路、微处理器及嵌入式系统的验证过程中。掌握DFT不仅有助于提升个人技能，在复杂芯片设计领域更具竞争力，也是确保产品质量的关键因素之一。探索超过66,000份精选资源，深入学习如何优化您的设计方案以满足严格的测...

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CPU可测试性设计

可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU，综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片...

📅 2021-10-15

可测试性设计 CPU

基于FPGA的边界扫描控制器的设计

随着印制电路板功能的日益增强，结构日趋复杂，系统中各个功能单元之间的连线间距越来越细密，基于探针的电路系统测试方法已经很难满足现在的测试需要。边界扫描测试(BST)技术通过将边界扫描寄存器单元安插在集成电路内部的每个引脚上，相当于设置了施加激励和观测响应的内建虚拟探头，通过该技术可以大大的提高数字系...

📅 2013-07-20 👤 hewenzhi

FPGA 边界扫描控制器

Verilog HDL高级数字设计

·作者：[美]Michael D.Ciletti出版社：电子工业出版社 内容简介：本书通过大量完整的实例讲解了使用VerilogHDL进行超大规模集成电路设计的结构化建模方法、关键步骤和设计验证方法等实用内容。全书共分11章，涵盖了建模、结构平衡、功能验证、故障模拟和逻辑合成等关键问题，还...

📅 2013-06-19 👤 PresidentHuang

Verilog nbsp HDL 数字设计

一种片上系统复位电路的设计

设计了一种片上系统（SoC）复位电路。该电路能对外部输入信号进行同步化处理以抑制亚稳态，采用多级D触发器进行滤波提升抗干扰能力，并且控制产生系统所需的复位时序以满足软硬件协同设计需求。同时，完成了可测性设计（DFT）。基于Xilinx spartan-6 FPGA进行了验证。结果表明该电路可以抑制9...

📅 2014-12-29 👤 guojin_0704

片上系统复位电路