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BIST（内置自测试）技术是现代电子系统设计中不可或缺的一部分，通过集成于芯片内部的测试电路实现对自身功能的自动检测与诊断，极大提升了系统的可靠性与维护效率。广泛应用于微处理器、存储器及复杂SOC等领域。掌握BIST不仅能够帮助工程师优化产品设计流程，还能有效降低生产成本。本站精选7个高质量BIST相关资源，涵盖理论基础到实际应用案例，助力您快速成长为该领域的专家。立即访问下载，开启您的学习之旅！

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·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包括重用...

📅 👤 sjb555
数字集成电路 嵌入式 内核

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