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探索可制造性设计的精髓，掌握从概念到量产的关键技术。本页面汇集了25744份精选资源，涵盖电子产品的全生命周期优化策略，包括但不限于DFM（Design for Manufacturability）原则、PCB布局技巧、元器件选型指南等，助力工程师提升产品可靠性与成本效益。无论是初学者还是资深专家，都能在这里找到宝贵的学习资料和实战案例，加速您的项目从原型到市场的转化过程。立即访问，开启高效...

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本书是Brian W. Kernighan和Rob Pike合著的最新力作。本书从排错、测试、性能、可移植性、设计、界面、风格和记法等方面，讨论了程序设计中实际的、又是非常深刻和具有广泛意义的思想、技术和方法，它的翻译出版将填补国内目前这方面书籍的空白。本书值得每个梦想并努力使自己成为优秀程序员的人...

📅 👤 jjj0202
W. Kernighan Brian Pike

可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU，综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片...

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可测试性设计 CPU

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GB-T4677.10-1984 印制板可焊性测试方法.pdf

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最大化java代码的可重用性 (转).txt
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提高java代码可重用性的三个措施(3).txt
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