半数集
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基于太赫兹时域光谱的半导体材料参数测量
提出了一个考虑ＦＰ 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中，截取多个反射回峰，以提高材料参数提取的精确度。另外，考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高，提出了一种有效的厚度优化方法。以ＧａＡｓ 为待测样品，利用上述方法...
2013-12-16
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半导体云讲堂——宽禁带半导体（GaN SiC）材料及器件测试
半导体云讲堂——宽禁带半导体（GaN、SiC）材料及器件测试宽禁带半导体材料是指禁带宽度在3.0eV及以上的半导体材料， 典型的是碳化硅(SiC)、 氮化镓(GaN)、 金刚石等材料。 宽禁带半导体材料被称为第三代半导体材料。四探针技术要求...
2022-01-03
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MCGS数据采集单片机数据传送
本资源提供了详细的MCGS数据采集系统与单片机之间数据传输的设计方案，适用于工业自动化、智能家居等多个领域。内容详尽，包括硬件连接图、软件编程示例及调试指南，非常适合电子工程专业学生作为毕业设计参考或工程师快速掌握相关技术。该资料免费提供完...
2025-12-01
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