低温试验
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一种高电源抑制比全工艺角低温漂CMOS基准电压源
基于SMIC0.35 μm的CMOS工艺，设计了一种高电源抑制比，同时可在全工艺角下的得到低温漂的带隙基准电路。首先采用一个具有高电源抑制比的基准电压，通过电压放大器放大得到稳定的电压，以提供给...
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DCS 在EAST 低温系统中的设计与应用The Design and Application of DCS in EAST Cryogenic System
本文介绍了DCS 在EAST 低温系统中的设计与应用，特别对系统的工艺设计、硬件结构和软件设计作了详细介绍。关键词：集散控制系统；EAST；低温系统；组态软件 A...
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汉明码系统试验
差错控制编码的基本作法是：在发送端被传输的信息序列上附加一些监督码元，这些多余的码元与信息之间以某种确定的规则建立校验关系。接收端按照既定的规则检验信息码元与监督码元之间的关系，一旦传输过程中发生差错...