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测试测量 基于太赫兹时域光谱的半导体材料参数测量
提出了一个考虑ＦＰ 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中，截取多个反射回峰，以提高材料参数提取的精确度。另外，考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高，提出了一种有效的厚度优化方法。以ＧａＡｓ 为待测样品，利用上述方法精确提取了其折射率与消光系数谱.
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测试测量 基于Joint+HOG特征复杂场景下的头肩检测
头肩的定位检测采用了Haar特征和HOG特征的层级分类方法，并根据头肩的对称性特点，提出了一种称为Joint HOG的组合型特征。通过Haar分类器滤除大部分负样本后，接着用HOG进行精细的验证从而得到头肩目标框。实验表明，本文的方法取得了80%~90%的准确率，并且完全可以用于实时处理。
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测试测量 KGD质量和可靠性保障技术
建立了从裸芯片到KGD的质量与可靠性保证系统，确立了裸芯片测试、老化和评价技术，实现了工作温度为一55～+125℃ 的裸芯片静态、动态工作频率小于100MHz的测试和工作频率小于3MHz的1 25℃ 动态老化筛选，可保障裸芯片在技术指标和可靠性指标上达到封装成品的等级要求。
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测试测量 基于神经网络的超声导波管道缺陷识别
研究了超声导波进行长距离在役管道检测技术, 并利用人工神经网络进行管道缺陷的智能识别, 通过超声导波设备进行了管道缺陷检测实验, 从原始检测数据的信号处理结果中提取出了样本特征值, 并建立和训练了一种用于实现管道缺陷识别的BP神经网络。
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测试测量 如何用示波器进行ps级时间精度的测量
要进行ps级时间测量，首先需要示波器的带宽和采样率不能太低，否则信号失真会带来测量误差。Agilent 的90000 系列示波器可以提供13GHz 的带宽以及40G/s的采样率，采样点的间隔可以达到25ps，再通过插值，单一通道的时间测量精度可以<5ps，初步提供了精确测量的可行性。
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测试测量 基于PXI总线的多路数据采集系统设计
针对航天测试系统中提出的多通道数据采集要求，采用PXI采集卡，设计了多路温度、液位、电压等信号的采集系统。使用VC++2008编写了采集控制程序，可以实时显示和处理多路测试数据。本系统已成功应用于某测试任务。
测试测量 新的基于单元逼近的恒虚警率检测器
基于删除平均（CM）和单元平均（CA）提出了一种新型的恒虚警率检测器,它采用CM和CA产生局部估计,再将这两个局部估计与检测单元进行比较,取逼近于检测单元的局部估计作为总的杂波功率估计。在SwerlingⅡ型目标假设和高斯杂波下,推导出它的检测概率Pd和虚警概率Pfa的解析表达式。
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测试测量 简易光照度监测电路的设计
利用光敏二极管的高带宽及光电流与光照度之间较好线性关系的特点!设计了一种简易的光照度测量电路!该电路具有原理清楚"结构简单"读数容易"线性好等优点!适合于农用大棚等要求不高的场合!同时还给出了光照度与电路输出电流的关系
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测试测量 硅中磷杂质的SIMS定量检测
样品的前期处理工艺会对检测结果产生影响。不同处理工艺得到的样品,在表面粗糙度方面产生区别。不同的表面粗糙度,影响到样品的测试时间和测试精度。同时,通过仪器调试,仪器的真空度达到1&times;10-10 &nbsp;torr,使测试背底和检测限降低。
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测试测量 CS5460A的校准与修调
本款简单有功/无功组合三相数字电表采用三星MCU(S3P8469)为控制器，CS5460A 为计量芯片，电能存储在EEPROM 中，通过RS485 接口读出，同时在LED 上直观的显示出来。另外，该款电表去除了笨重的线形变压器，采用了TOP232Y 开关电源，既缩小了电表的体积，又节省了硬件成本。
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