搜索结果

找到约 10,000 项符合 ADC测试 的查询结果

按分类筛选

显示更多分类

习题答案 高中数学必修4平面向量测试题(附详细答案)

高中数学必修4平面向量测试题(附详细答案)高中数学必修4平面向量测试题(附详细答案)
https://www.eeworm.com/dl/514072.html
下载: 1
查看: 51

其他 GBT 32088-2015汽车非金属部件及材料氙灯加速老化测试方法

GBT 32088-2015汽车非金属部件及材料氙灯加速老化测试方法
https://www.eeworm.com/dl/520550.html
下载: 3
查看: 79

技术资料 功率放大器在微流控芯片测试中的应用

由于微生物筛选实验通常需要较长的时间,所以对微流控芯片中的微液滴有更高的要求,如提高微液滴的稳定性,优化生物兼容性以及防止微液滴内水相物质渗漏到油相等。本研究针对以上问题,以代谢产物 (氨基酸) 为研究对象,通过对包埋氨基酸的皮升级微液滴特性的研究,为液滴微流控芯片系统在氨基酸检测和相应生产菌株的高通量 ...
https://www.eeworm.com/dl/744257.html
下载: 10
查看: 8702

技术资料 大功率半导体激光器加速寿命测试方法的讲解

该文档为大功率半导体激光器加速寿命测试方法的讲解文档,是一份很不错的参考资料,具有较高参考价值,感兴趣的可以下载看看………………
https://www.eeworm.com/dl/746730.html
下载: 3
查看: 1827

技术资料 半导体云讲堂——宽禁带半导体(GaN SiC)材料及器件测试

半导体云讲堂——宽禁带半导体(GaN、SiC)材料及器件测试宽禁带半导体材料是指禁带宽度在3.0eV及以上的半导体材料, 典型的是碳化硅(SiC)、 氮化镓(GaN)、 金刚石等材料。 宽禁带半导体材料被称为第三代半导体材料。四探针技术要求样品为薄膜样品或块状, 范德堡法为更通用的四探针测量技术,对样品形状没有要求, 且不需 ...
https://www.eeworm.com/dl/827694.html
下载: 11
查看: 4242

技术资料 基于STC15 51单片机的ATX电源测试仪源码

基于STC15 51单片机的ATX电源测试仪源码基于STC15 51单片机的ATX电源测试仪源码基于STC15 51单片机的ATX电源测试仪源码
https://www.eeworm.com/dl/828232.html
下载: 4
查看: 9829

技术资料 实用低功耗设计设计思路器件选型技巧电路原理图测试方法

实用低功耗设计 ——原理、器件与应用从实用角度出发,全面、深入地阐述了低功耗电路设计的原理、常用器件、应用电路、应用技巧及其构成的典型低功耗系统。内容包括:低功耗电路设计的基本原则,经典及新型低功耗电源器件及应用,低功耗接口器件及应用,低功耗单片机、存储器、监控器及应用,新颖、热门低功耗集成电路及应 ...
https://www.eeworm.com/dl/833768.html
下载: 10
查看: 1056

技术资料 SystemVerilog验证--测试平台编写指南(高清英文版第三版)

SystemVerilog验证--测试平台编写指南(高清英文版第三版)
https://www.eeworm.com/dl/834694.html
下载: 38
查看: 9009

技术资料 SR8201F和RTL8201F性能对比测试数据

SR8201F和RTL8201F性能对比测试数据,供硬件设计人员或软件编程开发人员参考。
https://www.eeworm.com/dl/835592.html
下载: 8
查看: 4244

技术资料 基于LMP7721的微电流测试(原理图+相关参考资料)

基于LMP7721的微电流测试(原理图+相关参考资料)
https://www.eeworm.com/dl/836561.html
下载: 2
查看: 9635