CMOS闩锁效应
闩锁效应是指CMOS器件所固有的寄生双极晶体管被触发导通，在电源和地之间存在一个低阻通路，大电流，导致电路无法正常工作，甚至烧毁电路...
闩锁效应技术资料
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闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。
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闩锁效应latch_up
介绍电子元器件的闩锁效应。。。。。。。。...
CMOS LATCH UP 原理
适用于模拟与数字电路设计的工程师，在CMOS器件可靠性分析中具有重要参考价值。深入解析闩锁效应成因及抑制方法，助力优化驱动电路布局与抗干扰设计。...
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