闩锁效应
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闩锁效应 相关的电子技术资料，包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等，共 3 篇文章，持续更新中。
CMOS LATCH UP 原理
适用于模拟与数字电路设计的工程师，在CMOS器件可靠性分析中具有重要参考价值。深入解析闩锁效应成因及抑制方法，助力优化驱动电路布局与抗干扰设计。
闩锁效应latch_up
介绍电子元器件的闩锁效应。。。。。。。。
CMOS闩锁效应
<P class=MsoNormal style="MARGIN: 0cm 0cm 0pt; tab-stops: 12.0pt">闩锁效应是指CMOS器件所固有的寄生双极晶体管被触发导通，在电源和地之间存在一个低阻通路，大电流，导致电路无法正常工作，甚至烧毁电路<p></p></P>