脉冲测试

脉冲测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应（例如I2R和V2/R），避免对小型纳米器件可能造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器件（DUT）施加间隔很短的脉冲，产生高品质的可测信号，然后去掉信号源。

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涵盖纳米器件脉冲测试原理与方法的系统性讲解，涉及电学特性分析、信号采集及数据处理技术，适用于微电子与纳米工程领域研究者。

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