结温
结温是衡量半导体器件内部温度的关键参数，直接影响着电子设备的性能与寿命。掌握结温控制技术对于提高电路稳定性、延长产品使用寿命至关重要。本页面汇集了1083份精选资源，涵盖从基础理论到实际应用案例，帮助工程师深入理解结温对功率MOSFET、IGBT等元件的影响，并提供有效散热解决方案。无论是初学者还是...
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查看全部 500 份 →IGBT瞬态结壳温升计算
热阻是评价IGBT可靠性的重要指标.寻找简便高精度的测量方法对IGBT热阻进行测试具有十分重要的意义.根据JESD51—14中的瞬态热阻抗定义式,提出了一种可以快速、准确计算IGBT模块结壳热阻的方法
2022-06-26
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结冰传感器的温度补偿
根据结冰传感器的实现原理,分析了其振动频率的温度漂移特性,介绍了软件和硬件相结合的温度补偿方法。该方法已成功应用于结冰传感器的信号处理系统中,提高了结冰检测的准确度。Abstract : Th
2024-04-18
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