IGBT瞬态结壳温升计算 - 免费下载
技术资料资源
文件大小:300 K
💡 温馨提示:本资源由用户 20125101110 上传分享,仅供学习交流使用。如有侵权,请联系我们删除。
热阻是评价IGBT可靠性的重要指标.寻找简便高精度的测量方法对IGBT热阻进行测试具有十分重要的意义.根据JESD51—14中的瞬态热阻抗定义式,提出了一种可以快速、准确计算IGBT模块结壳热阻的方法