scan
共 117 篇文章
scan 相关的电子技术资料，包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等，共 117 篇文章，持续更新中。
JTAG基础知识
<p>IEEE1149.1的产生</p><p>1985年由IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips Electronics NV、Siemens、Alcatel和Ericsson等公司成立的JETAG</p><p>（Joint European Test Action Group）提出了边界扫描技术。1986年由于其它地区的一些公司的加入，JETAG改名为JTA
8051单片机C语言软件设计的艺术
<p>第1章：介绍如何输出方波信号，使喇叭发出声音的方法，包括发出“哗”声的函数和分别传递一个、二个及三个白变量的“哗”声函数，以及利用定时器产生方波信号而令喇叭发出“哗”声，并叙述音阶与频率的关系，以此作为演奏音乐的基础。</p><p>第2章：演奏音乐的程序由main（）函数开始，将其所有函数定义在·个main.c的模块内，并分别以各种指令结构来循序渐进地介绍软件构建的思维与解决方法。</p><
STM32F103开发板 DHT11温湿度DS18B20 气体MQ-2光敏声控雨滴传感器实验程序
<p>STM32F103开发板 DHT11温湿度DS18B20 气体MQ-2光敏声控雨滴传感器实验程序</p><p><br/></p><p>**--------------------------------------------------------------------------------------------------------</p><p>** Created by:
电子书-RTL Design Style Guide for Verilog HDL540页
<p>电子书-RTL Design Style Guide for Verilog HDL540页</p><p>A FF having a fixed input value is generated from the description in the upper portion of
Example 2-21. In this case, ’0’ is output when the re
CPU可测试性设计
<p><span style="font-size: 9pt; font-family: 宋体;">可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在</span></p><p><span style="font-size: 9pt; font-family: 宋体;">芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用
Deep-Learning-with-PyTorch
We’re living through exciting times. The landscape of what computers can do is<br />
changing by the week. Tasks that only a few years ago were thought to require<br />
higher cognition are getting so
The emphasis of this book is on real-time application of Synopsys tools, used to combat various pro
The emphasis of this book is on real-time application of Synopsys tools, used
to combat various problems seen at VDSM geometries. Readers will be
exposed to an effective design methodology for handl
zigZag scan implementation on matlab
zigZag scan implementation on matlab
The SE-955 is a high performance miniature scan engine offering best in class, size, quality, reliab
The SE-955 is a high performance miniature scan engine offering best in class, size, quality, reliability,
durability and performance.
3 simple AVR assembler code to use seven segment display. These 3 codes realy simple way using seven
3 simple AVR assembler code to use seven segment display. These 3 codes realy simple way using seven segment display. these are using in my microprocessor classes.
Wert deney1.asm -> no scan
Wer
ScienceOps has answers. Rapid Custom Algorithm development www.ScienceOps.com Simpleware From 3
ScienceOps has answers. Rapid Custom Algorithm development
www.ScienceOps.com
Simpleware
From 3D scan to CAD, FE/CFD, and RP Join our Webinar on March 12th
www.simpleware.com
Steganography So
Scan 4 Digit VHDL code
Scan 4 Digit VHDL code
说明： GR(M)-87目前只能应用于WINCE5.0版本中
说明：
GR(M)-87目前只能应用于WINCE5.0版本中，其它版本用不了。
1.该软件是用来检测GPS的COM以及GPS信号的软件，应用广泛
2.mGpsCmd是PPC(WINCE系统)用的，GpsViewer 1.5是PC和PPC的安装程序，考到SD卡上就可以直接用！
用法1：搜索COM口，连上GPS，点SCAN，如果提示找到FOUNDGPS，那么就是对应的C
The Graham scan examines the points one by one and eliminates the points which cause reflexive angle
The Graham scan examines the points one by one and eliminates the points which cause reflexive angles
操作系统SCAN算法源码思想
操作系统SCAN算法源码思想，希望有识之士可以棒改进一下，大家受益受益
M-SCAN后台扫描利器, 可以扫描基本的漏洞
M-SCAN后台扫描利器, 可以扫描基本的漏洞
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理
1 前言
本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。
2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Bou
课程设计之磁盘调度算法：N-Step—Scan
课程设计之磁盘调度算法：N-Step—Scan
这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍
这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。
这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会，希望对想了解ARM JTAG调试的网友们有所帮助。我个人对ARM JTAG的理解还不是很透彻，在文章中，难免会有偏失和
Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256, AT91SAM7X128, AT91SAM7XC256, AT91SAM7XC12
Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256, AT91SAM7X128, AT91SAM7XC256, AT91SAM7XC128 in BGA package.