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TAP(Test Access Port)技术是现代数字电路设计中不可或缺的一部分,广泛应用于芯片测试与调试。通过提供对内部节点的访问,TAP极大地简化了复杂系统的故障诊断过程,提高了开发效率。无论是初学者还是经验丰富的工程师,掌握TAP都能显著增强您在嵌入式系统、微处理器及FPGA项目中的竞争力。本页面汇集了44个精选资源,包括教程、案例分析和技术文档等,旨在帮助您全面了解并熟练运用这一关...

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