用于FPGA的N+0.5分频代码，可以用来进行非整数分频！
上传时间： 2013-08-06
上传用户：weixiao99
多路18b20测温显示系统,可同时测量n个第三18b20
上传时间： 2013-08-21
上传用户：zhangchu0807
8051工作于11.0592MHZ,RAM扩展为128KB的628128,FlashRom扩展为128KB的AT29C010A\r\n 128KB的RAM分成4个区(Bank) 地址分配为0x0000-0x7FFF\r\n 128KB的FlashRom分成8个区(Bank) 地址分配为0x8000-0xBFFF\r\n 为了使8051能访问整个128KB的RAM空间和128KB的FlashRom空间,在CPLD内建两个寄存器\r\n RamBankReg和FlashRomBankReg用于存放高位地址
上传时间： 2013-08-30
上传用户：cainaifa
自己现在用的CPLD下载线，用74HC244芯片\r\n要注意设置下载模式
上传时间： 2013-08-31
上传用户：dancnc
\r\n经典的Protel99se入门教程，孙辉著北京邮电大学出版社出版
上传时间： 2013-09-11
上传用户：Yukiseop
用于定量表示ADC动态性能的常用指标有六个，分别是：SINAD(信纳比)、ENOB(有效位 数)、SNR(信噪比)、THD(总谐波失真)、THD + N(总谐波失真加噪声)和SFDR(无杂散动态 范围)
上传时间： 2014-01-22
上传用户：鱼哥哥你好
基于N沟道MOS管H桥驱动电路设计与制作
上传时间： 2014-08-01
上传用户：1109003457
为了克服传统功率MOS 导通电阻与击穿电压之间的矛盾,提出了一种新的理想器件结构,称为超级结器件或Cool2MOS ,CoolMOS 由一系列的P 型和N 型半导体薄层交替排列组成。在截止态时,由于p 型和n 型层中的耗尽区电场产生相互补偿效应,使p 型和n 型层的掺杂浓度可以做的很高而不会引起器件击穿电压的下降。导通时,这种高浓度的掺杂使器件的导通电阻明显降低。由于CoolMOS 的这种独特器件结构,使它的电性能优于传统功率MOS。本文对CoolMOS 导通电阻与击穿电压关系的理论计算表明,对CoolMOS 横向器件: Ron ·A = C ·V 2B ,对纵向器件: Ron ·A = C ·V B ,与纵向DMOS 导通电阻与击穿电压之间Ron ·A = C ·V 2. 5B 的关系相比,CoolMOS 的导通电阻降低了约两个数量级。
上传时间： 2013-10-21
上传用户：1427796291
对于常规VDMOS器件结构， Rdson与BV存在矛盾关系，要想提高BV，都是从减小EPI参杂浓度着手，但是外延层又是正向电流流通的通道，EPI参杂浓度减小了，电阻必然变大，Rdson增大。所以对于普通VDMOS，两者矛盾不可调和。 但是对于COOLMOS，这个矛盾就不那么明显了。通过设置一个深入EPI的的P区，大大提高了BV，同时对Rdson上不产生影响。为什么有了这个深入衬底的P区，就能大大提高耐压呢？ 对于常规VDMOS，反向耐压，主要靠的是N型EPI与body区界面的PN结，对于一个PN结，耐压时主要靠的是耗尽区承受，耗尽区内的电场大小、耗尽区扩展的宽度的面积，也就是下图中的浅绿色部分，就是承受电压的大小。常规VDMOS，P body浓度要大于N EPI， PN结耗尽区主要向低参杂一侧扩散，所以此结构下，P body区域一侧，耗尽区扩展很小，基本对承压没有多大贡献，承压主要是P body－－N EPI在N型的一侧区域，这个区域的电场强度是逐渐变化的，越是靠近PN结面（a图的A结），电场强度E越大。所以形成的浅绿色面积有呈现梯形。
上传时间： 2013-11-11
上传用户：小眼睛LSL
计数器是一种重要的时序逻辑电路，广泛应用于各类数字系统中。介绍以集成计数器74LS161和74LS160为基础，用归零法设计N进制计数器的原理与步骤。用此方法设计了3种36进制计数器，并用Multisim10软件进行仿真。计算机仿真结果表明设计的计数器实现了36进制计数的功能。基于集成计数器的N进制计数器设计方法简单、可行，运用Multisim 10进行电子电路设计和仿真具有省时、低成本、高效率的优越性。
上传时间： 2013-10-11
上传用户：gtzj
