现场总线技术是当前自动化技术中的一个热点，但目前国际上常用的多种现场总线协议均由世界级厂商提出和垄断。CAN总线是公认的最具发展前景的现场总线之一，其应用层协议有国外公司的CANopen和DeviceNet，由广州致远电子推出的现场总线iCAN协议以其简洁方便的特点受到广泛关注，尤其得到国内用户的积极相应。为了在高校的现场总线教学中推广具有我们国家自主知识产权的现场总线应用，需要为学生提供一套功能完善、综合性强的基于iCAN协议现场总线技术的实验室教学系统。本课题正是针对这一问题而构建基于现场总线iCAN协议的综合测试系统，力求使学生通过该系统的学习掌握现场总线iCAN协议相关知识，为将来快速进入相关工作岗位打下基础。 本文首先介绍基于现场总线iCAN协议综合测试系统的研究背景、目的及其意义，详细介绍了现场总线技术和CAN总线的相关知识，对iCAN协议进行了详细的介绍和分析。所设计的基于现场总线iCAN协议的综合测试系统由基本系统和扩展系统两部分构成。基本测试系统设计面向基本的标准实验设备，利用广州致远的iCAN系列功能模块构成；扩展系统设计面向测试系统的综合性设计，实现iCAN网络与其它控制网络如PLC网络的互连，并通过CANET-100转换器实现iCAN总线与上位PC机的通信。测试系统的上位监控界面设计采用工业组态软件MCGS完成，MCGS与总线的数据交互采用OPC方式实现。通过OPC实现iCAN网络与MCGS间的数据传输。在完成基于现场总线iCAN协议综合测试系统的基础上，本文还进一步讨论了如何采用基于DSPTMS320LF2407A主控芯片设计iCAN综合数据采集卡，叙述了其整体设计思想， 给出了具体的硬件和软件设计以及如何实现对iCAN协议的解析。本文的最后通过设计三个实际的实验例子，进一步展示了系统的构成和功能。 综上所述，该测试系统由基本测试系统和综合测试系统构成，并提供iCAN综合数据采集卡的设计方法和三个实验例程，可为学生提供分层学习、综合学习以及设计开发平台，实践证明该系统具有良好的新颖性和实用性。本课题研究的测试系统模式同样适用于其它工业现场总线测试系统。 关键词：CAN总线，iCAN协议，DSP，PLC，组态软件
上传时间： 2013-04-24
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大功率照明LED（Light Emitting Diode）是新一代光源，它光转换效率高，也称作绿色光源。由于大功率照明LED本身的伏安特性，大功率LED的开关电源的研究从一开始就遇到了困难。而发展LED照明是现在节能环保的大趋势，所以研究开发一种新型的大功率照明LED开关电源是很有必要的。 本文简要介绍了大功率LED的发光特性、伏安特性及其驱动方案，并回顾了大功率LED开关电源的发展历史，展望了未来趋势。给出了大功率LED开关电源课题的背景，并分析了设计难点。在此基础上，提出了一种新型两级式方案，前级为PFC级，后级为DC/DC级。PFC级采用电感电流临界连续模式的Boost变换器，DC/DC级采用准谐振模式的反激变换器。为了提高PFC级在低电压输入时的效率，采用了变电压输出的控制方案。 文中首先对采用临界连续工作模式的功率因数校正级的工作原理和主电路参数进行推导与设计，以及对基于L6562的PFC控制电路的设计进行了详细的研究。其次详细介绍了准谐振模式的理论基础和应用，对基于NCP1377B的反激变换器的工作原理和稳态特性进行了详细的分析；在此基础上提出了一种高效低损耗的准谐振变换器的设计方案。论文详细介绍了该方案的工作原理和特点，并分析了钳位电路及基于TSM103的恒压/恒流电路及线性稳压器在提出的两级式方案中的应用。 结合上面提到的方案，本文研制了一台全球输入电压范围（90～265Vac），12V/5A输出的大功率照明LED开关电源，实验结果验证了所提方案的可行性。
上传时间： 2013-07-15
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光伏阵列是光伏系统的重要组成部分，它决定了光伏系统的发电量，同时也是光伏系统成本的主要部分。因此合理配置光伏阵列，提高光伏阵列的利用效率一直是光伏系统设计的研究重点，也是降低光伏系统发电成本的重要措施。本文采用了可变电子负载现场测试方法，设计并研制出基于Philips公司的LPC2214的光伏阵列测试仪样机。本文主要工作及创新在于： 1.在基于LPC2214测试控制部分的硬件电路设计中，为电压和电流的采样各设置了四路不同量程的采样通道。采样时系统自动选择最合适的量程，提高电压和电流大范围测量时的精度； 2.通过对系统进行一次预采样来确定光伏阵列的开路电压和短路电流。预采样的方法只需要使可变电子负载完成一次由阻值为零到阻值为无穷大的操作； 3.对测试得到的数据首先将电压值进行从小到大的升序重组，其对应的电流值采用lagrange中值法对进行数字滤波处理，从而消除由于偶然出现的脉冲性干扰所引起的采样值偏差； 4.对辅助电源、测试控制电路和液晶显示进行了一体化的设计，使光伏阵列特性的测量和显示可以在本测试仪上一次完成； 5.本测试仪样机可以利用光伏阵列的数学模型以及测量的实时数据对光伏阵列的特性曲线进行预估和分析。 通过对光伏阵列进行实际测量，得到的实验结果表明：该样机测试系统运行稳定、携带方便、测量精度较高、一次完整的测试只需14ms左右，测试速度快，并且测量得到的伏安特性可以在液晶上直接以曲线的形式显示，使测得的阵列特性更为直观，能满足工程应用的需要。
上传时间： 2013-04-24
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32x16点阵LED显示,汇编语言，可用于毕业设计的同学参考
上传时间： 2013-04-24
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光二极管(LED)继在中小尺寸屏幕的便携产品背光等应用获大量采用后，随着它发光性能的进一步提升及成本的优化，近年来已迈入通用照明领域，如建筑物照明、街道照明、景观照明、标识牌、信号灯、以及住宅内的照明等，应用可谓方兴未艾。
上传时间： 2013-04-24
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有机发光显示器件(OrganicLight-EmittingDiodes，OLEDs)作为下一代显示器倍受关注，它具有轻、薄、高亮度、快速响应、高清晰度、低电压、高效率和低成本等优点，完全可以媲美CRT、LCD、LED等显示器件。作为全固化显示器件，OLED的最大优越性是能够与塑料晶体管技术相结合实现柔性显示，应用前景非常诱人。OLED如此众多的优点和广阔的商业前景，吸引了全球众多研究机构和企业参与其研发和产业化。然而，OLED也存在一些问题，特别是在发光机理、稳定性和寿命等方面还需要进一步的研究。要达到这些目标，除了器件的材料，结构设计外，封装也十分重要。 本论文的主要工作是利用现有的材料，从绿光OLED器件制作工艺、发光机理，结构和封装入手，首先，探讨了作为阳极的ITO玻璃表面处理工艺和ITO玻璃的光刻工艺。ITO表面的清洁程度严重影响着光刻质量和器件的最终性能；ITO表面经过氧等离子处理后其表面功函数增大，明显提高了器件的发光亮度和发光效率。 其次，针对光刻、曝光工艺技术进行了一系列相关实验，在光刻工艺中，光刻胶的厚度是影响光刻质量的一个重要因素，其厚度在1.2μm左右时，光刻效果理想。研究了OLED器件阴极隔离柱成像过程中的曝光工艺，摸索出了最佳工艺参数。 然后采用以C545T作为绿光掺杂材料制作器件结构为ITO/CuPc(20nm)/NPB(100nm)/Alq3(80nm)：C545T(2.1％掺杂比例)/Alq3(70nm)/LiF(0.5nm)/Al(1,00nm)的绿光OLED器件。最后基于以上器件采用了两种封装工艺，实验一中，在封装玻璃的四周涂上UV胶，放入手套箱，在氮气保护气氛下用紫外冷光源照射1min进行一次封装，然后取出OLED片，在ITO玻璃和封装玻璃接口处涂上UV胶，真空下用紫外冷光源照射1min，固化进行二次封装。实验二中，在各功能层蒸镀完成后，又在阴极的外面蒸镀了一层薄膜封装层，然后再按实验一的方法进行封装。薄膜封装层的材料分别为硒(Se)、碲(Te)、锑(Sb)。分别对两种封装工艺器件的电流-电压特性、亮度-电压特性、发光光谱及寿命等特性进行了测试与讨论。通过对比，研究发现增加薄膜封装层器件的寿命比未加薄膜封装层器件寿命都有所延长，其中，Se薄膜封装层的增加将器件的寿命延长了1.4倍，Te薄膜封装层的增加将器件的寿命延长了两倍多，Sb薄膜封装层的增加将器件的寿命延长了1.3倍，研究还发现薄膜封装层基本不影响器件的电流-电压特性、色坐标等光电性能。最后，分别对三种薄膜封装层材料硒(Se)、碲(Te)、锑(Sb)进行了研究。
上传时间： 2013-07-11
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电子功能模件是机电产品的基本组成部分，其水平高低直接决定整个机电产品的工作质量。当前PCB自动测试系统大多为欧美产品，价格相当昂贵，远远超出我国中小电子企业的承受能力。为了提高我国中小企业电子设备的竞争力，本课题研发了适合于我国中小企业、价格低廉、使用方便的PCB路内测试系统。 本文首先详细介绍了PCB各种检测技术的原理和特点，然后根据本课题面向的用户群和他们对PCB测试的需求，组建PCB内测试系统。本系统基于虚拟仪器设计思想，以PCB上模拟电子器件、组合逻辑电路及由其构成的功能模块等为被测对象，包括路内测试仪、逻辑分析单元、信号发生器、高速数据采集器、多路通道扫描器及针床。其中：路内测试仪对不同被测对象选择不同测试方法，采用电位隔离法实现了被测对象与PCB上其他元器件的隔离，并采用自适应测试方法提高测试结果的准确度。逻辑分析单元主要采用反向驱动技术测试常见的组合逻辑电路。信号发生器能同时产生两路正弦波、方波、斜波、三角波等常用波形。数据采集器能同时采集四路信号，以USB接口与主机通讯。多路通道扫描器采用小型继电器阵列来实现，可扩展性好。针床采用新型夹具，既保证接触性能，又不至破坏触点。 实践表明，本系统能对常用电子功能模件进行自动测试，基本达到了预期目标。
上传时间： 2013-06-06
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LED显示屏培训资料，讲述LED的工作原理，LED屏原理，组装，工程应用等
上传时间： 2013-07-28
上传用户：GavinNeko
基于单片机的超声波测距仪LED显示电路的设计
上传时间： 2013-07-01
上传用户：杜莹12345
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词：ADC测试；并行；参数评估；FPGA；FFT
上传时间： 2013-07-11
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